基于MK.1TE测试系统对芯片静电放电(ESD)测试分析

ESD是指"静电释放"。静电是一种客观的自然现象,不均匀分布在芯片本身、人体和机器上以及芯片能够存在的环境及周围的事物上。这些静止的电荷随时都可能通过某种方式释放出来。静电释放的特点是高电压、低电量、小电流和作用时间短。随着电子学系统和集成电路,比如专用集成电路(ASIC)或"片上系统(SOC)"的复杂度增加,测试和分析集成电路对静电释放的防护能力是非常重要的。该文将介绍集成电路产品基于MK.1TE测试系统的ESD测试方法和分析。