MOV并联单元数变化对串补装置的影响

为保护电容器组,串联补偿(简称"串补")装置一般会配置金属氧化物限压器(metal oxide varistor,MOV)。串补运行过程中,MOV单元可能损坏,如果在备用单元损坏的基础上,又有MOV单元减少,可能会危害串补的安全稳定运行。本文结合神保串补工程,分析了MOV并联单元减少对串补装置的影响,具体包括以下几个方面:摇摆电流下MOV可靠性;现有MOV电流及能耗保护定值的适用性;串补装置保护水平;MOV容量配置合理性;电容器组放电过程中装置可靠性。本文得出了相应的分析结果,并给出了应对策略。

ZnO压敏电阻两片并联方法及性能分析

目前，常采用将压敏电阻片（MOV）并联的方法来提高压敏型电涌保护器（SPD）的通流容量和电压保护水平。根据ZnO压敏电阻的伏安特性，利用冲击发生器HAEFELY PSURGE 30.2和CJ1001型压敏电阻直流参数仪进行了大规模实验，通过对实验数据进行对比分析发现，将压敏电压U1mA作为并联选片的参数是可行的；双片MOV并联的通流容量是单片MOV通流容量的1.4-1.6倍，MOV并联使用能够降低残压以及提高电压保护水平。

六脉冲下金属氧化物压敏电阻单片与双片并联的性能分析

为了研究在多脉冲下,雷电保护器中金属氧化物压敏电阻(MOV)单片与双片并联的性能,利用多脉冲发生设备,设置波形8/20μs,电流幅值20kA,脉冲间隔50ms的6个模拟的高压雷电脉冲,对单片与双片并联的MOV进行高压冲击试验,每次冲击间隔至样品恢复室温,对比测试单片20kA与双片10kA并联的伏安特性,分别分析它们的各自耐高压的性能。研究发现,多脉冲下双片并联的耐冲击性能明显优于单片;多脉冲下MOV的散热能力对耐受性能起重要作用,而双片并联的散热能力较单片更好。因此多脉冲下双片10kA并联比单片20kA更具可靠性和经济性。

MOV多片并联在冲击老化过程中温度差的变化

通过冲击实验,红外温枪测温,SEM扫描电镜分析表征等实验手段研究了MOV多片并联在冲击老化过程中温度差的变化。研究表明:在长期电涌冲击下,并联体中各MOV受损情况不尽相同,受损较严重的MOV甚至会出现穿晶破坏现象,将导致其阻性与其他MOV的阻性产生很大差异,当再次经受电涌冲击时其将会吸收更多的冲击电流,这样就会造成各MOV的通流量不同,从而产生温度差。根据此现象,设计了一种嵌入式多点温度无线监控系统,该系统能判断电涌保护器中各MOV的配合情况以及整体的老化程度,具有针对性强,实时高效的特点。