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MPC5675微控制器测试研究
1
作者
何灏
王爽
+1 位作者
彭文
刘诗琪
《中小企业管理与科技》
2017年第34期172-173,共2页
恩智浦(NXP)半导体公司设计生产的32位MPC5675芯片广泛用于汽车助力转向系统、先进驾驶辅助系统以及其他与汽车安全相关的设备中,为汽车安全提供了有力保障。芯片电路的高集成度给芯片测试带来更多的挑战。针对MPC5675芯片在温度测量模...
恩智浦(NXP)半导体公司设计生产的32位MPC5675芯片广泛用于汽车助力转向系统、先进驾驶辅助系统以及其他与汽车安全相关的设备中,为汽车安全提供了有力保障。芯片电路的高集成度给芯片测试带来更多的挑战。针对MPC5675芯片在温度测量模块测试和数模转换测试过程中出现的问题,分别采用温度测量值和室温参考值比对的方法和动态接触电阻测试的方法,优化测试程序,提高芯片良品率。该测试方案可用于MPC5675系列芯片测试中。
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关键词
mpc5675芯片
温度测量
模块测试
数模转换测试
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职称材料
题名
MPC5675微控制器测试研究
1
作者
何灏
王爽
彭文
刘诗琪
机构
恩智浦(NXP)半导体公司
天津职业技术师范大学电子工程学院
出处
《中小企业管理与科技》
2017年第34期172-173,共2页
文摘
恩智浦(NXP)半导体公司设计生产的32位MPC5675芯片广泛用于汽车助力转向系统、先进驾驶辅助系统以及其他与汽车安全相关的设备中,为汽车安全提供了有力保障。芯片电路的高集成度给芯片测试带来更多的挑战。针对MPC5675芯片在温度测量模块测试和数模转换测试过程中出现的问题,分别采用温度测量值和室温参考值比对的方法和动态接触电阻测试的方法,优化测试程序,提高芯片良品率。该测试方案可用于MPC5675系列芯片测试中。
关键词
mpc5675芯片
温度测量
模块测试
数模转换测试
Keywords
mpc
5675
microcontroller
temperature test
module test
digitalmode conversiontest
分类号
TN06 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
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1
MPC5675微控制器测试研究
何灏
王爽
彭文
刘诗琪
《中小企业管理与科技》
2017
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