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基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计
被引量:
11
1
作者
须自明
苏彦鹏
于宗光
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第3期245-247,共3页
针对某SOC中嵌入的8K SRAM模块,讨论了基于March C-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,研究了测试算法的选择、数据背景的产生,并完成了基于March C-算法的BIST电路的设计。实验证明,该算法的BIST实现能...
针对某SOC中嵌入的8K SRAM模块,讨论了基于March C-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,研究了测试算法的选择、数据背景的产生,并完成了基于March C-算法的BIST电路的设计。实验证明,该算法的BIST实现能大幅提高故障覆盖率。
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关键词
静态存储器
march
c
-算法
内建自测试
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职称材料
基于March C-算法的SRAM芯片的SEU失效测试系统
被引量:
2
2
作者
王鹏
李振
+1 位作者
邵伟
薛茜男
《电子器件》
CAS
北大核心
2014年第5期803-807,共5页
为实现SRAM芯片的单粒子翻转故障检测,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统:故障监测端基于LabVIEW开发了可视化的测试平台,执行数据的采集、存储及结果分析任务,板卡测试端通过FPGA向参考SRAM和待测SRAM注入基于March C-算法的...
为实现SRAM芯片的单粒子翻转故障检测,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统:故障监测端基于LabVIEW开发了可视化的测试平台,执行数据的采集、存储及结果分析任务,板卡测试端通过FPGA向参考SRAM和待测SRAM注入基于March C-算法的测试向量,通过NI公司的HSDIO-6548板卡采集2个SRAM的数据,根据其比较结果判定SEU故障是否发生。该系统可以实时监测故障状态及测试进程,并且具有较好的可扩展性。
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关键词
仿真测试
单粒子翻转
LabVIEW
march
c
-算法
SRAM
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职称材料
基于March C+算法的SRAM BIST设计
被引量:
4
3
作者
张志超
侯立刚
吴武臣
《现代电子技术》
2011年第10期149-151,共3页
为了增加存储器测试的可控性和可观测性,减少存储器测试的时间和成本开销,在此针对LEON处理器中的32位宽的SRAM进行BIST设计。采用March C+算法,讨论了SRAM的故障模型及BIST的实现。设计的BIST电路可以与系统很好的相连,并且仅增加很少...
为了增加存储器测试的可控性和可观测性,减少存储器测试的时间和成本开销,在此针对LEON处理器中的32位宽的SRAM进行BIST设计。采用March C+算法,讨论了SRAM的故障模型及BIST的实现。设计的BIST电路可以与系统很好的相连,并且仅增加很少的输入/输出端口。仿真结果证明,BIST的电路的加入在不影响面积开销的同时,能够达到很好的故障覆盖率。
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关键词
SRAM
BIST
march
c
+算法
故障模型
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职称材料
基于March C+算法的Memory BIST设计与实现
4
作者
翟明静
殷景华
+1 位作者
宋明歆
郭喜俊
《哈尔滨商业大学学报(自然科学版)》
CAS
2009年第5期549-552,共4页
随着信息技术的发展,设计越来越复杂,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,由于本身单元密度很高,嵌入式存储器容易造成硅片缺陷,降低了芯片的成品率.针对投影仪梯形校正项目嵌入的存储器模块存在的故障等问题,讨论了基于M a...
随着信息技术的发展,设计越来越复杂,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,由于本身单元密度很高,嵌入式存储器容易造成硅片缺陷,降低了芯片的成品率.针对投影仪梯形校正项目嵌入的存储器模块存在的故障等问题,讨论了基于M arch C+算法的B IST的设计与实现,并对B IST进行改进,完成对存储器故障的检测和定位,整个测试故障覆盖率接近100%、测试时间为35.546 m s.
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关键词
march
c
+算法
嵌入式存储器
BIST
SO
c
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职称材料
基于March C+算法的RAM内建自测试设计
5
作者
刘兴辉
孙守英
程宇
《辽宁大学学报(自然科学版)》
CAS
2018年第2期125-128,共4页
为解决HSC32K1芯片传统测试的不足,基于March C+算法的内建自测试(Built In Self Test,BIST)方法,并利用perl语言调用Mbist Architect工具自动产生March C+算法,生成时间只需要3.5 s,相比手动编写算法代码几十分钟甚至几小时来说缩短了...
为解决HSC32K1芯片传统测试的不足,基于March C+算法的内建自测试(Built In Self Test,BIST)方法,并利用perl语言调用Mbist Architect工具自动产生March C+算法,生成时间只需要3.5 s,相比手动编写算法代码几十分钟甚至几小时来说缩短了测试时间,提高了测试效率。仿真结果表明,提出的测试方法,可以有效地达到测试效果。该方法可以推广到对其他芯片进行测试,适用性强.
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关键词
PERL语言
march
c
+算法
HS
c
32K1芯片
内建自测试
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职称材料
基于March C-算法的单片机存储器测试
被引量:
4
6
作者
于文考
高成
张栋
《现代电子技术》
2010年第6期19-21,33,共4页
为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测...
为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测试程序编写。该测试程序对SAF,TF,AF,CF的故障覆盖率可达到100%,并且能够检测部分NPSF故障,具有较高的故障覆盖率,适合于对用户级MCS-51系列单片机存储器的测试。
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关键词
单片机
march
c
-算法
存储器测试
故障覆盖率
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职称材料
模糊C-均值聚类引导的Kinect深度图像修复算法
被引量:
8
7
作者
万红
钱锐
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2019年第5期1564-1568,共5页
针对Kinect传感器所采集的深度图像中存在大面积空洞的问题,提出了一种模糊C-均值聚类引导的深度图像修复算法。该算法将同步获取的彩色图像和深度图像作为输入;利用模糊C-均值聚类算法对彩色图像进行聚类,聚类结果作为引导图像;然后对...
针对Kinect传感器所采集的深度图像中存在大面积空洞的问题,提出了一种模糊C-均值聚类引导的深度图像修复算法。该算法将同步获取的彩色图像和深度图像作为输入;利用模糊C-均值聚类算法对彩色图像进行聚类,聚类结果作为引导图像;然后对每个深度图像中的大面积空洞区域,利用改进的快速行进算法,从空洞边缘向空洞内部逐层修复空洞区域;最后,利用改进的双边滤波算法去除图像中的散粒噪声。实验表明该算法能有效修复Kinect深度图像中的空洞,修复后的图像在平滑度和边缘强度上优于传统算法。
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关键词
深度图像
空洞修复
模糊
c
-均值算法
聚类
快速行进法
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职称材料
双下肢医学CT图像的三维可视化研究与实现
被引量:
1
8
作者
崔竑
《计算机技术与发展》
2011年第12期175-177,181,共4页
将医院提供的二维断层图像序列转变为直观立体效果的图像,展现人体双下肢骨骼的三维结构与形态。结合模糊C-均值聚类算法和区域增长法对CT断层图像进行分割,提取图像中感兴趣的区域ROI,即骨骼区域,再对分割后的图像采用面绘制的方法进...
将医院提供的二维断层图像序列转变为直观立体效果的图像,展现人体双下肢骨骼的三维结构与形态。结合模糊C-均值聚类算法和区域增长法对CT断层图像进行分割,提取图像中感兴趣的区域ROI,即骨骼区域,再对分割后的图像采用面绘制的方法进行三维重建。两种分割方法的结合使用能使分割结果更加准确,Marching Cubes算法进行三维重建能获得良好的骨骼观察视觉效果。该方法涉及到了数字图像处理、计算机图形学以及医学领域的相关知识,可实现医学CT图像的三维可视化,为骨科医学诊断提供了形象直观的技术方法。
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关键词
模糊
c
-均值聚类
区域增长
分割
march
ING
c
UBES算法
三维可视化
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职称材料
一种基于Scanchain的Block RAM的MBIST设计方法
被引量:
1
9
作者
丛红艳
闫华
+1 位作者
胡凯
张艳飞
《电子与封装》
2016年第4期21-23,28,共4页
基于March C+算法,设计了一种基于Scan chain的Block RAM为测试对象的串/并行BIST电路。在电路内部自身生成测试向量,不需要外部施加激励,并依靠自身决定得到测试结果是否正确。该电路既可以有效对Block RAM进行准确校验和故障定位,又...
基于March C+算法,设计了一种基于Scan chain的Block RAM为测试对象的串/并行BIST电路。在电路内部自身生成测试向量,不需要外部施加激励,并依靠自身决定得到测试结果是否正确。该电路既可以有效对Block RAM进行准确校验和故障定位,又不会因BIST测试增加PAD的数量。最后,对设计方法结果进行了仿真验证。
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关键词
march
c
+算法
BIST电路
故障定位
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职称材料
Flash型FPGA内嵌BRAM测试技术研究
10
作者
雷星辰
季伟伟
+1 位作者
陈龙
韩森
《电子与封装》
2023年第12期14-19,共6页
Flash型FPGA由于具有高可靠性、卓越的安全性和即插即用的功能,被广泛应用于军事及航空航天领域。Flash型FPGA的内部结构复杂而庞大,因此研究其测试技术的可靠性和准确性至关重要。块随机存储器(BRAM)作为FPGA内部重要的存储模块,在传...
Flash型FPGA由于具有高可靠性、卓越的安全性和即插即用的功能,被广泛应用于军事及航空航天领域。Flash型FPGA的内部结构复杂而庞大,因此研究其测试技术的可靠性和准确性至关重要。块随机存储器(BRAM)作为FPGA内部重要的存储模块,在传统测试中存在故障覆盖率较低的问题。为了扩大故障覆盖范围,对March C+算法进行了改进,优化后算法对写干扰故障(WDF)、写破坏耦合故障(CFwd)、干扰耦合故障(CFds)和字内耦合故障的检测能力得到了显著提高。结果表明,优化后的算法相较于March C+算法,其故障覆盖率提高了25个百分点,且与时间复杂度相同的March SS算法相比,其故障覆盖率提高了5.8个百分点。
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关键词
Flash型FPGA
march
c
+算法
BRAM
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职称材料
基于FPGA的SRAM测试电路的设计与实现
被引量:
4
11
作者
田勇
孙晓凌
申华
《电子工程师》
2008年第12期57-59,共3页
为了保证独立的SRAM模块或嵌入式SRAM模块功能的完整性与可靠性,必须对SRAM模块进行测试。介绍了一种基于Altera DE2开发板的面向字节的SRAM测试电路的设计与实现。测试算法采用分为字内和字间测试两部分的高故障覆盖率March C-算法;设...
为了保证独立的SRAM模块或嵌入式SRAM模块功能的完整性与可靠性,必须对SRAM模块进行测试。介绍了一种基于Altera DE2开发板的面向字节的SRAM测试电路的设计与实现。测试算法采用分为字内和字间测试两部分的高故障覆盖率March C-算法;设计的测试电路可由标准的JTAG(联合测试工作组)接口进行控制。设计的测试电路可测试独立的SRAM模块或作为BIST(内建自测试)电路测试嵌入式SRAM模块。验证结果表明该SRAM测试系统是非常高效的。
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关键词
SRAM(静态随机存储器)
march
c
-算法
JTAG
BIST
下载PDF
职称材料
基于FPGA测试电路的SRAM自测试研究
被引量:
1
12
作者
陈亚坤
《单片机与嵌入式系统应用》
2012年第1期8-11,共4页
SRAM是微机系统中的记忆设备,用来存放程序和数据。因此对SRAM的自测试可以有效地避免存储器工作不正常给系统带来的损害。采用硬件描述语言对FPGA电路进行编程,构造SRAM测试电路。以对各种存储器常见故障模型能够有效检测的March C-算...
SRAM是微机系统中的记忆设备,用来存放程序和数据。因此对SRAM的自测试可以有效地避免存储器工作不正常给系统带来的损害。采用硬件描述语言对FPGA电路进行编程,构造SRAM测试电路。以对各种存储器常见故障模型能够有效检测的March C-算法为主要测试算法,对存储器单元进行故障测试,并将有错误的地址单元映射到备用的存储单元,以确保微机系统稳定运行。
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关键词
SRAM自测试
故障模型
FPGA
march
c
-算法
下载PDF
职称材料
题名
基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计
被引量:
11
1
作者
须自明
苏彦鹏
于宗光
机构
江南大学信息工程学院
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第3期245-247,共3页
基金
电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室资助项目(51433020105DZ6802)
文摘
针对某SOC中嵌入的8K SRAM模块,讨论了基于March C-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,研究了测试算法的选择、数据背景的产生,并完成了基于March C-算法的BIST电路的设计。实验证明,该算法的BIST实现能大幅提高故障覆盖率。
关键词
静态存储器
march
c
-算法
内建自测试
Keywords
SRAM
march
c
-
algorithm
BIST
分类号
TP301.6 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
基于March C-算法的SRAM芯片的SEU失效测试系统
被引量:
2
2
作者
王鹏
李振
邵伟
薛茜男
机构
中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室
中国民航大学安全科学与工程学院
出处
《电子器件》
CAS
北大核心
2014年第5期803-807,共5页
基金
国家自然科学基金委员会与中国民用航空局联合项目(U1333120)
中央高校基本科研业务费项目(3122013P004)
+1 种基金
中央高校基本科研业务费项目(312013SY53)
中国民航大学科研启动基金项目(2012QD26X)
文摘
为实现SRAM芯片的单粒子翻转故障检测,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统:故障监测端基于LabVIEW开发了可视化的测试平台,执行数据的采集、存储及结果分析任务,板卡测试端通过FPGA向参考SRAM和待测SRAM注入基于March C-算法的测试向量,通过NI公司的HSDIO-6548板卡采集2个SRAM的数据,根据其比较结果判定SEU故障是否发生。该系统可以实时监测故障状态及测试进程,并且具有较好的可扩展性。
关键词
仿真测试
单粒子翻转
LabVIEW
march
c
-算法
SRAM
Keywords
emulation test
single event upset (SEU)
LabVIEW
march
c
-
algorithm
SRAM
分类号
TN710-34 [电子电信—电路与系统]
下载PDF
职称材料
题名
基于March C+算法的SRAM BIST设计
被引量:
4
3
作者
张志超
侯立刚
吴武臣
机构
北京工业大学集成电路与系统集成实验室
出处
《现代电子技术》
2011年第10期149-151,共3页
基金
国家自然科学基金资助项目(60976028)
北京工业大学博士启动基金资助项目(X0002012200802)
文摘
为了增加存储器测试的可控性和可观测性,减少存储器测试的时间和成本开销,在此针对LEON处理器中的32位宽的SRAM进行BIST设计。采用March C+算法,讨论了SRAM的故障模型及BIST的实现。设计的BIST电路可以与系统很好的相连,并且仅增加很少的输入/输出端口。仿真结果证明,BIST的电路的加入在不影响面积开销的同时,能够达到很好的故障覆盖率。
关键词
SRAM
BIST
march
c
+算法
故障模型
Keywords
SRAM
BIST
march
c
+
algorithm
fault model
分类号
TN402.34 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
基于March C+算法的Memory BIST设计与实现
4
作者
翟明静
殷景华
宋明歆
郭喜俊
机构
哈尔滨理工大学应用科学学院
常州工学院电子信息与电气工程学院
出处
《哈尔滨商业大学学报(自然科学版)》
CAS
2009年第5期549-552,共4页
文摘
随着信息技术的发展,设计越来越复杂,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,由于本身单元密度很高,嵌入式存储器容易造成硅片缺陷,降低了芯片的成品率.针对投影仪梯形校正项目嵌入的存储器模块存在的故障等问题,讨论了基于M arch C+算法的B IST的设计与实现,并对B IST进行改进,完成对存储器故障的检测和定位,整个测试故障覆盖率接近100%、测试时间为35.546 m s.
关键词
march
c
+算法
嵌入式存储器
BIST
SO
c
Keywords
march
c
+
algorithm
embedded memory
BIST
So
c
分类号
TP301.6 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
基于March C+算法的RAM内建自测试设计
5
作者
刘兴辉
孙守英
程宇
机构
辽宁大学物理学院
北京宏思电子科技有限公司
出处
《辽宁大学学报(自然科学版)》
CAS
2018年第2期125-128,共4页
基金
辽宁省教育厅研究生教育教学改革项目(辽教函[2017]24号)
文摘
为解决HSC32K1芯片传统测试的不足,基于March C+算法的内建自测试(Built In Self Test,BIST)方法,并利用perl语言调用Mbist Architect工具自动产生March C+算法,生成时间只需要3.5 s,相比手动编写算法代码几十分钟甚至几小时来说缩短了测试时间,提高了测试效率。仿真结果表明,提出的测试方法,可以有效地达到测试效果。该方法可以推广到对其他芯片进行测试,适用性强.
关键词
PERL语言
march
c
+算法
HS
c
32K1芯片
内建自测试
Keywords
Perl language
march
c
+
algorithm
HS
c
2Kl
c
hip
Built In Self Test
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
基于March C-算法的单片机存储器测试
被引量:
4
6
作者
于文考
高成
张栋
机构
北京航空航天大学
出处
《现代电子技术》
2010年第6期19-21,33,共4页
文摘
为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测试程序编写。该测试程序对SAF,TF,AF,CF的故障覆盖率可达到100%,并且能够检测部分NPSF故障,具有较高的故障覆盖率,适合于对用户级MCS-51系列单片机存储器的测试。
关键词
单片机
march
c
-算法
存储器测试
故障覆盖率
Keywords
single
c
hip mi
c
ro
c
omputer
march
c
--
algorithm
memory test
fault
c
overage
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
模糊C-均值聚类引导的Kinect深度图像修复算法
被引量:
8
7
作者
万红
钱锐
机构
郑州大学电气工程学院
脑科学与脑机接口技术河南省重点实验室
出处
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2019年第5期1564-1568,共5页
基金
国家自然科学基金面上项目(61673353)
河南省脑科学与脑机接口技术重点实验室开放基金资助项目(HNBBL17005)
文摘
针对Kinect传感器所采集的深度图像中存在大面积空洞的问题,提出了一种模糊C-均值聚类引导的深度图像修复算法。该算法将同步获取的彩色图像和深度图像作为输入;利用模糊C-均值聚类算法对彩色图像进行聚类,聚类结果作为引导图像;然后对每个深度图像中的大面积空洞区域,利用改进的快速行进算法,从空洞边缘向空洞内部逐层修复空洞区域;最后,利用改进的双边滤波算法去除图像中的散粒噪声。实验表明该算法能有效修复Kinect深度图像中的空洞,修复后的图像在平滑度和边缘强度上优于传统算法。
关键词
深度图像
空洞修复
模糊
c
-均值算法
聚类
快速行进法
Keywords
depth image
hole inpainting
fuzzy
c
-means
algorithm
c
lustering
fast
march
ing method
分类号
TP391.41 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
下载PDF
职称材料
题名
双下肢医学CT图像的三维可视化研究与实现
被引量:
1
8
作者
崔竑
机构
同济大学电子与信息工程学院CAD研究中心
出处
《计算机技术与发展》
2011年第12期175-177,181,共4页
基金
国家高技术研究发展计划(863计划)(2010AA122200)
文摘
将医院提供的二维断层图像序列转变为直观立体效果的图像,展现人体双下肢骨骼的三维结构与形态。结合模糊C-均值聚类算法和区域增长法对CT断层图像进行分割,提取图像中感兴趣的区域ROI,即骨骼区域,再对分割后的图像采用面绘制的方法进行三维重建。两种分割方法的结合使用能使分割结果更加准确,Marching Cubes算法进行三维重建能获得良好的骨骼观察视觉效果。该方法涉及到了数字图像处理、计算机图形学以及医学领域的相关知识,可实现医学CT图像的三维可视化,为骨科医学诊断提供了形象直观的技术方法。
关键词
模糊
c
-均值聚类
区域增长
分割
march
ING
c
UBES算法
三维可视化
Keywords
fuzzy
c
-means
c
lustering
region growing
c
T segmentation
march
ing
c
ubes
algorithm
three-dimensional visualization
分类号
TP39 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
下载PDF
职称材料
题名
一种基于Scanchain的Block RAM的MBIST设计方法
被引量:
1
9
作者
丛红艳
闫华
胡凯
张艳飞
机构
无锡中微亿芯有限公司
出处
《电子与封装》
2016年第4期21-23,28,共4页
文摘
基于March C+算法,设计了一种基于Scan chain的Block RAM为测试对象的串/并行BIST电路。在电路内部自身生成测试向量,不需要外部施加激励,并依靠自身决定得到测试结果是否正确。该电路既可以有效对Block RAM进行准确校验和故障定位,又不会因BIST测试增加PAD的数量。最后,对设计方法结果进行了仿真验证。
关键词
march
c
+算法
BIST电路
故障定位
Keywords
the
algorithm
based on
march
c
+
BIST
c
irtuit
fault lo
c
al
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
Flash型FPGA内嵌BRAM测试技术研究
10
作者
雷星辰
季伟伟
陈龙
韩森
机构
电子科技大学(深圳)高等研究院
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出处
《电子与封装》
2023年第12期14-19,共6页
文摘
Flash型FPGA由于具有高可靠性、卓越的安全性和即插即用的功能,被广泛应用于军事及航空航天领域。Flash型FPGA的内部结构复杂而庞大,因此研究其测试技术的可靠性和准确性至关重要。块随机存储器(BRAM)作为FPGA内部重要的存储模块,在传统测试中存在故障覆盖率较低的问题。为了扩大故障覆盖范围,对March C+算法进行了改进,优化后算法对写干扰故障(WDF)、写破坏耦合故障(CFwd)、干扰耦合故障(CFds)和字内耦合故障的检测能力得到了显著提高。结果表明,优化后的算法相较于March C+算法,其故障覆盖率提高了25个百分点,且与时间复杂度相同的March SS算法相比,其故障覆盖率提高了5.8个百分点。
关键词
Flash型FPGA
march
c
+算法
BRAM
Keywords
Flash-based FPGA
march
c
+
algorithm
BRAM
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
基于FPGA的SRAM测试电路的设计与实现
被引量:
4
11
作者
田勇
孙晓凌
申华
机构
东北大学东软信息学院嵌入式系统工程系
出处
《电子工程师》
2008年第12期57-59,共3页
基金
大连市集成电路设计专项研发资金(大信发【2005】44号)
文摘
为了保证独立的SRAM模块或嵌入式SRAM模块功能的完整性与可靠性,必须对SRAM模块进行测试。介绍了一种基于Altera DE2开发板的面向字节的SRAM测试电路的设计与实现。测试算法采用分为字内和字间测试两部分的高故障覆盖率March C-算法;设计的测试电路可由标准的JTAG(联合测试工作组)接口进行控制。设计的测试电路可测试独立的SRAM模块或作为BIST(内建自测试)电路测试嵌入式SRAM模块。验证结果表明该SRAM测试系统是非常高效的。
关键词
SRAM(静态随机存储器)
march
c
-算法
JTAG
BIST
Keywords
SRAM
march
c
-
algorithm
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BIST ( Built-in self-test)
分类号
TP333.3 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
基于FPGA测试电路的SRAM自测试研究
被引量:
1
12
作者
陈亚坤
机构
电子科技大学
出处
《单片机与嵌入式系统应用》
2012年第1期8-11,共4页
文摘
SRAM是微机系统中的记忆设备,用来存放程序和数据。因此对SRAM的自测试可以有效地避免存储器工作不正常给系统带来的损害。采用硬件描述语言对FPGA电路进行编程,构造SRAM测试电路。以对各种存储器常见故障模型能够有效检测的March C-算法为主要测试算法,对存储器单元进行故障测试,并将有错误的地址单元映射到备用的存储单元,以确保微机系统稳定运行。
关键词
SRAM自测试
故障模型
FPGA
march
c
-算法
Keywords
SRAM self-test
fault model
FPGA
march c algorithm
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TN791 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计
须自明
苏彦鹏
于宗光
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007
11
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职称材料
2
基于March C-算法的SRAM芯片的SEU失效测试系统
王鹏
李振
邵伟
薛茜男
《电子器件》
CAS
北大核心
2014
2
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职称材料
3
基于March C+算法的SRAM BIST设计
张志超
侯立刚
吴武臣
《现代电子技术》
2011
4
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职称材料
4
基于March C+算法的Memory BIST设计与实现
翟明静
殷景华
宋明歆
郭喜俊
《哈尔滨商业大学学报(自然科学版)》
CAS
2009
0
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职称材料
5
基于March C+算法的RAM内建自测试设计
刘兴辉
孙守英
程宇
《辽宁大学学报(自然科学版)》
CAS
2018
0
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职称材料
6
基于March C-算法的单片机存储器测试
于文考
高成
张栋
《现代电子技术》
2010
4
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职称材料
7
模糊C-均值聚类引导的Kinect深度图像修复算法
万红
钱锐
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2019
8
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职称材料
8
双下肢医学CT图像的三维可视化研究与实现
崔竑
《计算机技术与发展》
2011
1
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职称材料
9
一种基于Scanchain的Block RAM的MBIST设计方法
丛红艳
闫华
胡凯
张艳飞
《电子与封装》
2016
1
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职称材料
10
Flash型FPGA内嵌BRAM测试技术研究
雷星辰
季伟伟
陈龙
韩森
《电子与封装》
2023
0
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职称材料
11
基于FPGA的SRAM测试电路的设计与实现
田勇
孙晓凌
申华
《电子工程师》
2008
4
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职称材料
12
基于FPGA测试电路的SRAM自测试研究
陈亚坤
《单片机与嵌入式系统应用》
2012
1
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职称材料
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