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一种改进的SRAM故障内建自检测算法 被引量：5
1
作者 曾健平 王振宇 +2 位作者 袁甲 彭伟 曾云 《湖南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第4期97-101,共5页
面向March C+算法故障覆盖率的问题,本文提出一种改进的March CS算法来完成存储器SRAM的内建自测试.通过增加原算法元素的读写操作来敏化存储单元的故障,检测原算法不能敏化的静态故障和动态故障,从而提高故障覆盖率.最后,通过对1 024*3... 面向March C+算法故障覆盖率的问题,本文提出一种改进的March CS算法来完成存储器SRAM的内建自测试.通过增加原算法元素的读写操作来敏化存储单元的故障,检测原算法不能敏化的静态故障和动态故障,从而提高故障覆盖率.最后,通过对1 024*32位静态随机存储器进行故障仿真验证,以及FPGA对SRAM芯片的应用性测试,March CS算法检测静态故障和动态故障的覆盖率分别达到91.67%和76.93%. 展开更多
关键词 march cs算法 静态故障 动态故障 故障覆盖率
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