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Mask测试系统的理论与实验研究
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作者 周文俊 李龙勤 +1 位作者 阎秀英 李贵吉 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1989年第6期61-64,共4页
本文阐述了关于模场直径(m.f.d)的Petermann第二定义的优越性,介绍了由这一定义建立的远场掩膜测试系统;考虑到掩膜板各部分的实际透过率,修正了国外文献中m.f.d的计算公式,可以迅速、方便、准确地测定1.3μm和1.55μm处单模光纤的m.f.d。
关键词 光纤 模场直径 mask测试系统
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