裂变室镀层质量厚度的相对测量技术

基于在相同的中子辐照条件下，裂变数与裂变核素的数量成正比的原理，利用加速器14MeV中子源研究了裂变室镀层重量的相对定量方法，介绍了实验布置及所获得的定量结果。将部分定量结果与其α定量结果进行比较，差异小于1％，证明该方法用于裂变室镀层重量的测定可行，定量结果的不确定度约为2％-4％。

Bulk-Micromegas快中子成像转换层的Geant4优化

基于Bulk-Micromegas探测器的快中子成像实验中,中子转换质子的转换层效率低是一个瓶颈.利用基于Geant4工具包的蒙特卡洛模拟程序并使用ROOT工具对不同中子源(Am-Be源和14MeV中子源)以及不同转换层结构和厚度对转换效率的影响进行了模拟,得到了转换率达到饱和时反冲质子的能量角度分部信息.结果表明,常规聚乙烯转换膜在转换层厚度为400和1600μm时,对Am-Be源和14MeV中子源的探测效率分别达到饱和,其效率分别为0.12%和0.35%.其次设计了3种新的转换层结构,模拟了转换率以及在气体间隙中的能量沉积.新转换膜的转换效率要明显优于传统转换层的转换效率.最高转换率达到常规转换膜的3倍.