单模光纤微弯性能浅析

本文介绍了国内外微弯研究进展及IEC TR62221-2001技术报告的微弯测试方法。本文采用技术报告中的方法B(固定直径圆筒法)对G.652D、G.657A2光纤分别进行了多次微弯试验,测试光纤在复绕后、复绕后常温保持2h、低温-60℃保持1h及低温-60℃保持24h的微弯衰减及衰减变化并对测试结果进行深入分析。通过微弯试验可获得方法B的重复性和可操作性。