光散射粒度测量中Mie理论两种改进的数值计算方法

本文提出了两种 Ｍｉｅ 散射程序算法：改进连分式方法和修正倒推法。改进连分式方法对 Ｌｅｎｔｚ 提出的连分式数值计算方法进行了改进，使 Ｍｉｅ 程序的计算范围大大拓宽：颗粒当量直径达到１０５ ，折射率虚部绝对值达到１０５ 。解决了以往一些算法不稳定的现象。修正倒推法在兼顾精度的同时，大大缩短了 Ｍｉｅ 程序的计算时间，是一种很实用的方法。从计算结果可以看出以上两种方法各有所长，适合应用在不同的场合。

光散射粒度测量中Mie理论的高精度算法

本文在以往计算Ｍｉｅ散射计算的基础上提出一种新的算法。本算法区别于传统的递推算法，精度高、计算范围广。文中推导了该算法的公式，分析了递推公式的不稳定性和应用上的局限性，并指出了本算法的优势。最后给出了部分计算结果并与已发布数据进行了比较。本算法适用的颗粒当量直径为１ｅ－５～１ｅ＋５，折射率虚部０～１ｅ＋５。