一种Philip Mifare1-S70卡片的区块可用性校验方法及实现

针对信息系统一卡通项目建设过程中Philip Mifare1-S70卡片的残次品问题,通过对卡片故障现象进行深入分析,得出卡片异常情况有读卡失败、写卡失败、写入与读出内容不一致3种常见类型,并结合工程案例提出了一种区块可用性校验方法,给出了具体的区块可用性校验步骤和实现过程。实际应用表明,通过这种事先校验的手段,测试人员能够快速地挑拣出有故障的卡片,杜绝了异常卡片进入流通环节,为企业节约了人力及物力成本。

非接触Mifare 1 IC S70智能卡芯片简介

芯片简介：飞利浦公司生产的Mifare 1 IC S70（简称S70）其容量最高达4K字节，是目前较为先进、成熟和完善的一种智能卡芯片。该芯片的通讯层(MifareRF接口)遵从ISO/IEC14443A标准的第2部分和第3部分，内部含有加密控制逻辑电路和通讯逻辑电路，卡与读写器之间的通讯采用国际通用的EDS和RES保密交叉算法，具有极高的可靠性和保密性能。