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MnFeP_(0.6)Si_(0.25)Ge_(0.15)粉末样品的制备及X射线衍射分析 被引量：1
1
作者 王高峰 松林 +4 位作者 欧志强 哈斯朝鲁 呼努斯图 李新文 特古斯 《内蒙古师范大学学报（自然科学汉文版）》 CAS 2007年第2期156-159,共4页
使用机械合成法制备了MnFeP0.6Si0.25Ge0.15粉末样品,研究了试样颗粒大小和半峰宽随球磨时间的变化关系.X射线粉末衍射分析表明,该样品退火后为Fe2P结构,样品密度ρ=6.655 g/cm3,颗粒大小D=43.2 nm,晶格畸变量Δd/d=0.053 818,表明在球... 使用机械合成法制备了MnFeP0.6Si0.25Ge0.15粉末样品,研究了试样颗粒大小和半峰宽随球磨时间的变化关系.X射线粉末衍射分析表明,该样品退火后为Fe2P结构,样品密度ρ=6.655 g/cm3,颗粒大小D=43.2 nm,晶格畸变量Δd/d=0.053 818,表明在球磨过程中存在一定的晶格畸变.球磨100 h后,试样颗粒大小达到纳米量级. 展开更多
关键词 化合物 X射线衍射 半峰宽 晶格畸变 可靠因子 mnfep0.6si0.25ge0.15粉末
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