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高压MnO2钽电容器的漏电流稳定性研究
被引量:
2
1
作者
田东斌
胡鑫利
+1 位作者
熊远根
刘兵
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2020年第12期22-26,共5页
高压MnO2钽电容器燃烧的失效模式给高稳定、高可靠电子电路安全使用带来很大的隐患,介质氧化膜的晶化和其中的氧空位跃迁是导致漏电流增长的主要因素。涂覆绝缘树脂阻挡层在电介质表面,既可屏蔽表面晶化点,提高界面的势垒,又能降低电介...
高压MnO2钽电容器燃烧的失效模式给高稳定、高可靠电子电路安全使用带来很大的隐患,介质氧化膜的晶化和其中的氧空位跃迁是导致漏电流增长的主要因素。涂覆绝缘树脂阻挡层在电介质表面,既可屏蔽表面晶化点,提高界面的势垒,又能降低电介质在被覆MnO2过程中的劣化。通过2倍额定电压和125℃环境条件V-I和T-I特性测试,揭示了温度和电压对极端条件下漏电流的作用机理,调整漏电流动力学公式中的欧姆和Poole-Frenkel电导率,高压MnO2钽电容器的正向V-I特性曲线与理论较好地吻合。该技术方法为高压MnO2型钽电容器在严酷环境中的安全使用提供支撑。
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关键词
高压
阻挡层
mno2钽电容器
漏电流
稳定性
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职称材料
题名
高压MnO2钽电容器的漏电流稳定性研究
被引量:
2
1
作者
田东斌
胡鑫利
熊远根
刘兵
机构
中国振华(集团)新云电子元器件有限责任公司
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2020年第12期22-26,共5页
基金
贵州省科技计划项目(黔科合平台人才[2019]5649)。
文摘
高压MnO2钽电容器燃烧的失效模式给高稳定、高可靠电子电路安全使用带来很大的隐患,介质氧化膜的晶化和其中的氧空位跃迁是导致漏电流增长的主要因素。涂覆绝缘树脂阻挡层在电介质表面,既可屏蔽表面晶化点,提高界面的势垒,又能降低电介质在被覆MnO2过程中的劣化。通过2倍额定电压和125℃环境条件V-I和T-I特性测试,揭示了温度和电压对极端条件下漏电流的作用机理,调整漏电流动力学公式中的欧姆和Poole-Frenkel电导率,高压MnO2钽电容器的正向V-I特性曲线与理论较好地吻合。该技术方法为高压MnO2型钽电容器在严酷环境中的安全使用提供支撑。
关键词
高压
阻挡层
mno2钽电容器
漏电流
稳定性
Keywords
high voltage
carrier blocking layer
mno
2
tantalum capacitor
leakage current
stability
分类号
TN60 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
高压MnO2钽电容器的漏电流稳定性研究
田东斌
胡鑫利
熊远根
刘兵
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2020
2
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