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Na_2O的含量对MoSi_2/Oxide系发热元件材料力学性能的影响 被引量:2
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作者 王刚 江莞 赵世柯 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期103-108,共6页
对比了脱Na处理工艺前后Na2O含量变化对MoSi2/Oxide系发热元件材料力学性能的影响.研究结果表明,虽然Na2O含量的高低对发热体材料常温力学性能影响不大,但是对发热元件材料高温力学性能有重要影响.主要表现在:经1573K热处理100h后脱Na... 对比了脱Na处理工艺前后Na2O含量变化对MoSi2/Oxide系发热元件材料力学性能的影响.研究结果表明,虽然Na2O含量的高低对发热体材料常温力学性能影响不大,但是对发热元件材料高温力学性能有重要影响.主要表现在:经1573K热处理100h后脱Na材料仍拥有很高的强度和韦伯分布;而且经过真空脱Na后材料的高温蠕变特性也有了明显改善,在1243和1303K的条件下脱Na材料的蠕变速率分别是未脱Na材料的2/5和1/3以下.另外,Na2O含量对材料延性脆性转变温度(BDTT)也有重要影响,脱Na材料的BDTT较未脱Na材料升高约100K. 展开更多
关键词 mosi2/Oxide系发热元件 材料 二硅化钼 NA2O 韦伯分布 蠕变特性 BDTT 氧化钠 真空热处理
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MoSi_2发热体电阻率—温度曲线测试系统的设计 被引量:1
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作者 林振衡 《莆田学院学报》 2007年第2期87-91,共5页
针对MoSi2发热元件是一种非线性小电阻元件,且其电阻率—温度曲线的测量温度范围大(0℃—1700℃)的特点,采用恒流源法结合四引线法设计出一套测量温度从0℃至1650℃的MoSi2发热元件的电阻率—温度曲线测试系统,并根据误差理论,结合测试... 针对MoSi2发热元件是一种非线性小电阻元件,且其电阻率—温度曲线的测量温度范围大(0℃—1700℃)的特点,采用恒流源法结合四引线法设计出一套测量温度从0℃至1650℃的MoSi2发热元件的电阻率—温度曲线测试系统,并根据误差理论,结合测试系统在室温31℃和高温1600℃时具体的测试条件和实际测试结果,对该测试系统的不确定度进行分析。分析结果表明该测试系统具有较高的测量精度。 展开更多
关键词 mosi2发热元件 电阻率—温度曲线 测试系统 不确定度
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