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BESⅢ Muon电子学VME控制扇出插件的优化设计
1
作者
张雄
梁昊
+1 位作者
虞孝麒
周永钊
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第6期1331-1333,1352,共4页
主要阐述BESⅢ Muon电子学VME控制扇出插件的优化设计,主要内容包括对VME控制扇出插件控制芯片FPGA的固件进行优化,并且设计了相关实验来对优化方案进行测试。
关键词
BESⅢ
muon电子学
VME
控制扇出
FPGA
固件
优化
下载PDF
职称材料
BESⅢ Muon前端电子学数据链过流保护系统设计
2
作者
陈颖
习建博
梁昊
《核电子学与探测技术》
CAS
北大核心
2016年第1期100-102,共3页
论文介绍了BESⅢ Muon前端电子学数据链过流保护系统的设计,其主要功能是监控数据链供电,防止数据链受大电流损伤。文章主要阐述了过流保护系统的软硬件设计,同时给出了过流保护系统原型机各项基本指标的测试结果。
关键词
BESⅢ
muon
前端
电子学
过流保护系统
原型机测试
下载PDF
职称材料
题名
BESⅢ Muon电子学VME控制扇出插件的优化设计
1
作者
张雄
梁昊
虞孝麒
周永钊
机构
中国科学技术大学近代物理系
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第6期1331-1333,1352,共4页
文摘
主要阐述BESⅢ Muon电子学VME控制扇出插件的优化设计,主要内容包括对VME控制扇出插件控制芯片FPGA的固件进行优化,并且设计了相关实验来对优化方案进行测试。
关键词
BESⅢ
muon电子学
VME
控制扇出
FPGA
固件
优化
Keywords
BESⅢ,
muon
electronics, VME, eontrol/fan-out, FPGA, firmware, optimization
分类号
TL82 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
BESⅢ Muon前端电子学数据链过流保护系统设计
2
作者
陈颖
习建博
梁昊
机构
中国科学院核探测技术与核电子学重点实验室
物理电子学安徽省重点实验室中国科学技术大学近代物理系
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
北大核心
2016年第1期100-102,共3页
文摘
论文介绍了BESⅢ Muon前端电子学数据链过流保护系统的设计,其主要功能是监控数据链供电,防止数据链受大电流损伤。文章主要阐述了过流保护系统的软硬件设计,同时给出了过流保护系统原型机各项基本指标的测试结果。
关键词
BESⅢ
muon
前端
电子学
过流保护系统
原型机测试
Keywords
BESⅢ
muon
front-end electronics
overcurrent protector
test of prototype
分类号
TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
BESⅢ Muon电子学VME控制扇出插件的优化设计
张雄
梁昊
虞孝麒
周永钊
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2009
0
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职称材料
2
BESⅢ Muon前端电子学数据链过流保护系统设计
陈颖
习建博
梁昊
《核电子学与探测技术》
CAS
北大核心
2016
0
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职称材料
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