数学计算法和软件拟合法在虚拟和真实alpha粒子能损测量Mylar膜厚度实验中的比较

根据中山大学物理与天文学院近代物理实验虚拟核实验连续三个年级的本科生实验报告,发现学生在用数学公式计算Mylar膜厚度时,与理论值出现较大误差,各年级的平均相对误差分别为445.02%、335.45%和519.92%。为了查找误差原因,做了真实核实验并依旧采用数学计算方法计算Mylar膜厚度,发现仍旧与理论值出现较大误差,相对误差值为207.72%。而采用Srim软件计算虚拟核实验Mylar膜厚度和真实核实验Mylar膜厚度时,相对误差很小,分别为7.47%和20.1%。从而判定,用数学组合公式在计算多原子化合物Mylar膜时,不准确度较高,误差较大。

低能离子在Mylar膜中的射程研究

研究了低能离子在Ｍｙｌａｒ膜中的射程，提出低能离子进入生物样品，在其内部通过溅射产生空洞，使高剂量下的后续离子射程大大增加。并提出了低能离子在生物样品中的最大射程与剂量成线性关系，将最大射程与辐射损伤联系起来。

Mylar膜衬底上的镀膜技术

本文系统地研究了在Mylar膜上通过真空蒸发沉积各种不同材料薄膜的技术,详细讨论了真空蒸发沉积薄膜时使衬底温度升高的蒸发源的辐射热和沉积时的冷凝热,介绍了一种精确控制厚度的方法,分析了静止衬底和转动衬底沉积薄膜的均匀性,探索和总结了在Mylar膜衬底上镀膜过程中防止衬底软化的方法。在12.5μm厚的Mylar膜上成功沉积了厚度为1μg/cm2和20μg/cm2的Sc、Ti等24种物理实验需要的薄膜。最后用X射线荧光分析方法测量了沉积在Mylar膜上的Cu膜和Cr膜的均匀性。结果显示,均匀性优于5%,完全满足物理实验的要求。

低能离子注入生物组织原初过程的模拟计算

基于 Monte-carlo算法 ,模拟了低能离子作用于生物靶的核阻止本领、入射的径迹和深度、质量能量沉积和溅射 .结果表明 ,单纯用物理方法只能描述离子束作用于生物样品的物理轮廓 。

电炮加载下靶板的高速摄影技术研究

叙述高速摄影在电炮加载多层铝板实验中的应用情况,用普通高速摄影技术和激光阴影摄影首次得到双层和三层铝板在Mylar膜飞片碰撞靶板后形成碎片云的变化图像和靶板表面的微物质喷射发展过程,观察改变起爆系统充电电压、靶板厚度及靶板之间距离等不同条件下的高速碰撞现象,初步得到碎片云和微物质的运动速度等实验结果。

波长色散X射线荧光结合元素分析仪分析金华佛手14种元素

以VarioⅢ元素分析仪分析金华佛手C,H,O,N含量,以PW2400波长色散X射线荧光光谱仪定性扫描佛手样品,采用IQ+分析法分析Mg,Al,P,S,Cl,K,Ca,Mn,Fe,Sr元素含量。结果表明,将C,H,O,N元素含量作为固定项处理,结果较为理想;为防止样品表面脱落而采用Mylar膜将样品包裹技术,通过对膜系数的校准,分析结果比较理想。

圆柱壳限制失稳的实验研究

采用高分子高弹性材料Mylar薄膜制作衬壳,其外侧的刚性限制为钢制圆柱筒壳,两端用加强环压紧以模拟边界条件。用气压加载模拟圆柱壳受周向均匀压力,观察衬壳的屈曲过程,同时测量衬壳的临界载荷。实验测量结果与有限元计算的结果符合较好。另外还通过人为制造不同初始缺陷和变换不同壳体长度,研究了限制失稳临界载荷与初始缺陷及不同长度的关系。结果表明圆柱薄衬壳受侧向外压的限制失稳临界载荷比自由失稳临界载荷有很大提高。

聚乙烯膜对样品残余应力测试的影响

采用X2 0 0 1应力分析仪测试了α Fe和铍样品表面分别覆盖聚乙烯膜前后的残余应力 ,探讨了残余应力测试值变化的原因及其规律。样品表面覆盖聚乙烯膜后 ,由于校准距离D的增大 ,使得衍射峰向低角度方向偏移 ,从而引起应力实测值发生了改变。通过对应力实测值进行修正 ,可获得样品内的真实应力。

X射线荧光光谱薄膜法测定多金属矿样中常量Pb、Zn、Cu、Fe、Mn

本文拟定了一个Ｘ射线荧光光谱薄膜测定常见铅、锌、铜、锰矿中０．２～ｘｘ％Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｆｅ、Ｍｎ的方法。实验考察了制片重现性和样品分解可靠性对本法结果的关键性影响，采用酸溶、钒作内标、Ｍｙｌａｒ膜制片测量。手续简便、方法精密度和准确性符合有色地质分析质量要求。

X射线荧光光谱－点滴麦勒膜制片法测定金标准样品中金银铜锌

酸分解试样，点滴麦勒膜制片，Ｎｉ元素作内标，使用Ｘ射线荧光光谱法同时测定金银标准样品中Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ和Ｚｎ，分析范围为０．２％～１００％。对于Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ和Ｚｎ含量为８３％、８．Ｏ％、６．２％、３．０％的试样，其Ｒ８Ｄ（ｎ＝６）分别为０．１％、１．１％、０．９％和１．１％。