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光电自准直仪中分划丝的分析与比较 被引量:4
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作者 欧同庚 傅辉清 《光学与光电技术》 2004年第5期50-53,共4页
根据CCD增维测量原理,分析了制约测量范围的因素,提出了改进分划板的刻线形式的几种方法,并做了比较。
关键词 增维测量 V分划 n型分划丝 M分划
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