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光电自准直仪中分划丝的分析与比较
被引量:
4
1
作者
欧同庚
傅辉清
《光学与光电技术》
2004年第5期50-53,共4页
根据CCD增维测量原理,分析了制约测量范围的因素,提出了改进分划板的刻线形式的几种方法,并做了比较。
关键词
增维测量
V
型
分划
丝
n型分划丝
M
型
分划
丝
下载PDF
职称材料
题名
光电自准直仪中分划丝的分析与比较
被引量:
4
1
作者
欧同庚
傅辉清
机构
中国地震局地震研究所
出处
《光学与光电技术》
2004年第5期50-53,共4页
文摘
根据CCD增维测量原理,分析了制约测量范围的因素,提出了改进分划板的刻线形式的几种方法,并做了比较。
关键词
增维测量
V
型
分划
丝
n型分划丝
M
型
分划
丝
Keywords
i
n
creme
n
tal dime
n
sio
n
measureme
n
t
V shape reticule
n
shape reticule
M shape reticule
分类号
TN386.5 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
光电自准直仪中分划丝的分析与比较
欧同庚
傅辉清
《光学与光电技术》
2004
4
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