镀膜光纤探针无透性的一种检测方法

在近场光学显微镜的研制过程中，制备合适的探针是一个重要的环节。在腐蚀法制得的光纤尖端附近镀铝膜后，采用扫描电子显微镜中的样品充电效应可检测出探针透光点的分布情况，亦可直接用电镜观察膜表面的均匀性，这对提前剔除不良探针有重要作用。

亚波长结构纳米孔的近场光学测试

利用微纳加工工艺制作了亚波长结构纳米孔,应用近场光学显微镜(NFOM)对样品进行了近场光学性质的测试,获得了样品的近场光强分布,测得其近场光斑直径约为120 nm,测试结果证明了环形周期性结构对中心纳米孔的增透和聚焦作用,为环形亚波长结构的纳米孔应用奠定了基础。