NI自动化测试产品——帮助用户构建以软件为核心的模块化系统

在过去的20多年中,NI一直为业界提供最先进的测量与自动化软件与模块化硬件,不断推进自动化测试技术的发展。目前,NI提供测试管理软件、应用开发环境、模块化仪器以及设备和仪器驱动程序,全方位满足客户的测试需求,帮助客户构建以软件为核心的模块化测试系统。

NI发布2016自动化测试趋势展望,智能化测试系统势在必行

NI通过确定最前沿的商业和技术趋势来帮助企业降低测试成本作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来帮助他们应对全球最严峻工程挑战的供应商,NI（美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI）近日发布了《2016自动化测试趋势展望》。

NI发布《2012年自动化测试趋势展望》

本刊讯：美国NI公司近日发布《2012年自动化测试趋势展望》，其中分享了公司对最新测试测量技术和方法的研究发现。该趋势报告详细介绍了影响众多行业的发展趋势，包括消费电子产品、汽车、半导体，航空航天与国防、医疗设备以及通讯。工程师和管理人员可从中了解并采用优化测试组织的最新策略和最佳方式。

NI使用ATE核心组件配置，帮助降低测试系统设计和部署成本

美国国家仪器公司（简称NI）近日宣布推出新的ATE核心组件配置，其核心机械、电源和安全基础设施旨在帮助从半导体和消费性电子产品到航空和汽车行业的用户加快自动化测试系统的设计和构建。

浅谈炮射导弹电子部件电参数的自动检测

电子部件是全弹的核心和灵魂,高效、准确地检测它的电参数是保证产品质量的前提。使用传统的测试方法,操作繁琐,外接标准设备多,并且要求人工进行数据计算和记录。借助“虚拟仪器”技术及大型数据库实现电子部件全部电参数的自动化测量,并自动完成最终结果计算、合格判定、打印输出。在电参数自动测试过程中无需人工干予,效率和准确性大大提高,测试结果全部存入数据库,为建立完整的产品档案和产品性能分析系统打下良好的基础。

NI PXI/PXI Express机箱系列新增两款新产品

美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）最近推出两款全新PXI Express机箱,以同等PXI机箱的价格,为自动化测试与控制应用带来更高的价值和性能。

NI拓展数字仪与示波器产品供应

NI（美国国家仪器公司）推出三款数字仪和基于电脑的示波器。这是继本年度7月推出NI PXI-5154产品后，NI公司针对NI 515x系列数字仪推出三款即500MHz NI PXI-5153、NI PCI-5153和1GHz NI PCI-5154模块。借助于NI 515x系列产品，工程师能充分利用这些具有300MHz、500MHz和1GHz宽度带的高速数字仪，以满足在实际测试中所需的自动化测试与流线型测试应用。

《国外电子测量技术》访NI技术市场工程师徐征

Q1.对于自动化测试系统,客户什么样的需求是最难实现的？NI的解决方案覆盖到很多领域,哪些领域较有优势？A：一直以来,企业的测试部门所面对的最大课题就是如何在测试系统的开发、部署和运行中优化人员、流程、技术,从而提高效率降低成本。随着产品种类的不断丰富和测试部门的不断膨胀,许多客户发现要做到这一点越来越难。

NI推出最新1GHz带宽的PXI量化仪

美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）近日推出NIPXI-5154量化仪／基于PC的示波器，大大增加了拥有20多个高端、高精度和高通道数的相关产品种类。具备双通道的1GHz PXI-5154量化仪可提供高达2 GS／s的实时采样率（对于重复信号，可达20 GS／s的等时采样率），满足了高速、接近纳秒速率的信号采集。此外，该量化仪配有该类产品中最大的板载内存——每通道存储可高达250MB，

NI推出最新1 GHz带宽的PXI量化仪

美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）近日推出NIPXI-5154量化仪／基于PC的示波器，大大增加了拥有20多个高端、高精度和高通道数的相关产品种类。具备双通道的1 GHz PXI-5154量化仪可提供高达2GS／s的实时采样率（对于重复信号，可达20 GS／s的等时采样率），满足了高速、接近纳秒速率的信号采集。此外，该量化仪配有该类产品中最大的板载内存——每通道存储可高达250MB，并同时可以在拓展的数据采集窗口上提供稳定的高采样率。新产品非常适合在消费电子、半导体、航空／国防和生命科学等行业的自动化测试与数据流中的应用。

NI将于7月在深圳主办第二届“中国PXI技术和应用论坛”

2005牢5月，NI宣布既将于7月在深圳主办第二届“中国PXI技术和应用论坛”(PXI Technoolgy ＆ Application Conference，即PXI TAC 2005)．本届活动的主旨是：PXI—引领自动化测试技术的潮班。此次论坛将有仪器/自动化和测试应用等同时进行的专题技术件座。10余场内容丰富的专题研讨会，现场的产品展示，与各参展商和行业内人士的面对面交流，必将使您不虚此行．绝对是不容错过的行业盛会！

NI—LabVIEW 2009

近日，NI宣布推出最新可用于测试、控制与嵌入式开发的图形化系统设计软件平台—LabVIEw2009。特点：·超越自动化测试一实时硬件在环测试；·超越多核一虚拟化技术；·超越无线一无线传感器网络；·助力大型应用程序的开发。值得一提的是，NI秉承每年发布新款LabVIEW的传统，新款软件的命名将基于发布年份。该发布周期规划了发布时间、产品稳定性和产品特性等，帮助用户简单方便地升级软件。

NI发布《2012年自动化测试趋势展望》

美国国家仪器公司（NI）近日发布《2012年自动化测试趋势展望》。其中分享了公司对最新测试测量技术和方法的研究发现。该趋势报告详细介绍了影响众多行业的发展趋势，包括消费电子产品、汽车、半导体，航空航天与国防、医疗设备以及通讯。工程师和管理人员可从中了解并采用优化测试组织的最新策略和最佳方式。

选择数据采集设备/数字化仪需要考虑的五大因素

National Instruments（NI）公司创建于1976年，是虚拟仪器的倡导者，其产品线遍布测试测量与自动化的各个领域，目前已经超过了2000多种测试测量产品。NI公司旗下有600多家系统联盟商，可以提供航空、汽车、电子制造、通信、半导体等领域专业的系统集成和解决方案。