Crystal structural refinement for NdAlSi

The compound NdAlSi was studied using X-ray powder diffraction technique and refined by the Rietveld method. The compound NdAlSi has tetragonal α-ThSiE-type structure, space group I41/amd （No. 141）, Z = 4, and the lattice parameters a = 0.41991（1） nm, c = 1.44916（3） nm. The Smith and Snyder figure of merit FN is F30= 103.1（36）. The R-factors of Rietveld refinement are Rp= 0.113 and Rwp= 0.148, respectively. The X-ray powder diffraction data is presented in this article.

二维数字图形计盒分维的改进算法和X射线衍射谱线分维计算

通过增加图像大小调整模块,根据所选标尺的大小,在二值图的右边和下面补充最少数量的背景色,使得二值图正好能被标尺正方形完全覆盖,改进了二维数字图像计盒分维的计算方法,并利用Matlab实现了分形图形计盒分维的更精确计算。利用改进的程序对8代Koch曲线计盒分维的计算证实了该程序的有效性。XRD谱线具有某种自相似性,利用该程序计算出了合金NdAlSi的XRD谱线的计盒分维值,发现该合金的XRD谱线的分维是1.1484,因而证实了XRD谱线具有分形特征。XRD谱线分维计算方法为进一步研究影响合金XRD谱线的因素与XRD谱线分形的关系提供了研究方法。