Renishaw新型OMP60测头——加工中心和车铣中心用全新小型测头系统

Renishaw的新型OMP60测头是新一代光学传输系统中的第一个产品，经专门设计，能够与Renishaw现有的所有光学接收器和下一代光学系统兼容。该测头可为各种加工中心和车铣中心提供便利的测量，使在机辅助时间节省约90％，并可降低废品率，降低夹具成本，改善过程控制。

全新小型测头系统OMP60

Renishaw的新型OMP60测头是新一代光学传输系统中的第一个产品，经专门设计，能够与Renishaw现有的所有光学接收器和下一代光学系统兼容。它为各种加工中心和车铣中心提供了测量的便利，可使在机辅助时间节省90％以上，并可减少废品率，降低夹具成本，改善过程控制。

全新小型测头系统——OMP60

Renishaw（雷尼绍）的新型OMP60测头是新一代光学传输系统中的第一个产品。经专门设计。能够与Renishaw现有的所有光学接收器和下一代光学系统兼容。

Renishaw推出创新的光学,无线电两种测头系统

新一代光学测头系统OMP60 OMP60测头可配用新型的OMI-2集成接口的接收器。该系统采用最先进的调制光学传输方法，具有极强的抗光干扰能力。与现有的。OMM／MI12和OMI接收器兼容，因此它的一些创新功能将使目前的MP7、MP8、MP9及MP10用户受益匪浅。通过Renishaw成熟的触发逻辑电路，多个测头开启／关闭选项使测头性能得以优化，在机床上无需拆开测头就能应用。

马波斯（上海）商贸有限公司多通道光学传输接触测头系统

具有调制光学信号传输的VOS接触测头系统对于中等以上的3～5轴机床是十分理想的。VOS具有卓越的防干扰能力、广泛的可操作范围和传输角，这些特质可归功于它创新的调制传输系统。

数控测头在数控系统中的应用

本文介绍了雷尼绍OMP40测头系统工作原理和标定方法,阐述了数控测头结合Siemens840D数控系统实现自动对刀、工件安装定位和在线测量等的方法及步骤。

马波斯推出高精度轴形光学测头

马波斯（Marposs）公司最近推出一种用于高精密加工中心和数控铣床的Mida OGP70轴形光学测头,该测头的单向测量重复性达到0·1μm。该测头与传输模块集成在一起，通过无线接收器，测量数据可以无线传输到机床的CNC系统。该公司称，这种触发测头可以360。发射启动和关闭信号，为了方便地安装在机床的加工范围内，测头具有很宽的发射角。

加工中心和车铣中心用全新小型测头系统

Renishaw的新型OMP60测头是新一代光学传输系统中的第一个产品，经专门设计，能够与Renishaw现有的所有光学接收器和下一代光学系统兼容。

可视对刀仪VTS与WRS无线电测头系统

马波斯在EM02013将展出非接触可视对刀仪，它能用很高的精度测量非常小的刀具，采用亚微米的视觉对刀仪可测各种刀尖的几何形状。一套复杂的光学系统加上CPU可以获得刀具的一系列参数，如直径、刀尖位置、径向跳动以及成形刀半径等。

马波斯推出高精度轴形光学测头

马波斯（Marposs）公司最近推出1种用于高精密加工中心和数控铣床的Mida OGP70轴形光学测头，该测头的单向测量重复性达到0．1μm。该测头与传输模块集成在一起，通过无线接收器，测量数据可以无线传输到机床的CNC系统。该公司称，这种触发测头可以360°发射启动和关闭信号，为了方便地安装在机床的加工范围内，测头具有很宽的发射角。

半导体激光测头与标定方法

叙述了一种采用半导体激光器作光源，位置敏感器件ＰＳＤ作光电接收器的半导体激光测头，对发射光学系统和接收光学系统的有关设计问题进行了讨论，提出了半导体激光测头的标定方法。

微机型四坐标万能工具显微镜测量系统

本成果是在普通万能工具显微镜的导轨上加装轴向光栅传感器，光学分度台上加装圆感应同步器，中央显微镜处安装电感测头（或多向触发式测头），通过接口电路与微机联接所形成的一套微机辅助座标测量系统。在使用时，被测零件的座标值由采样开关控制送入计算机，通过相应误差软件处理，便可迅速得到被测零件的几何形状误差。

全新ZEISS ScanBox 5系自动化三维光学测量解决方案

蔡司工业质量解决方案通过新的ZEISS ScanBox 5系机型扩大了其光学三维测量设备的范围。在新的系列中,ZEISS ScanBox自动化系统的成熟技术理念进一步优化,搭配改良的机器人模块和载荷高达2t的旋转台。ATOS 5高速三维测头支持在最短的时间内对由不同材料(如塑料、金属或铸铁)制成的复杂部件进行数字化检测。每次测量时,光学测头捕捉到整个表面几何形状以及孔样和零件的其他特征。

HP-O高精密光学测量解决方案

HP-O高精密光学测量解决方案是一包含新型光纤测头、QUINDOS测量软件和Leitz PMM-C高精密三坐标测量机的完整的测量系统。其精度和可靠性可与触发扫描测头相媲美，

基于华中数控系统的在机自动测量补偿技术

以华中HNC848D数控系统和RMP60红宝石测头为基础,阐述了在机测量系统的构成、原理,探讨了基于在机测量技术的自动测量、自动计算和自动补偿技术,构建了零件和测头加工模型,编制了自动测量、计算和补偿程序,实现了在四轴龙门加工中心上焊接件的沉孔自动补偿加工。

OMP60测头系统工作原理及应用开发

OMP60测头系统是一种高精度的检测装置．安装在数控机床上可实现基准面找正、工件坐标设定、工件在线检测等功能。本文在对测头系统的作用、组成、工作原理及系统自带的标定程序进行分析的基础上．对测头的标定方法进行总结，并且对测量程序程序进行二次开发，实现对数控卧式镗铣床第四轴（B轴）的自动找正．同时为其他相关二次开发程序的编制提供参考。

激光应用 激光测量

P225．2 2005042648 基于FPGA的数字相位计在煤矿提升机激光测距系统中的应用=Research of digital phasometer based on FPGA in laser range system of mine hoister[刊,中]／周孟然(中科院安徽光机所．安徽,合肥(230031)),刘文清…／／光学技术,-2005,31(2),-179-181 介绍了用于矿井提升机红外激光位置跟踪系统中的一种新型数字鉴相器的研究方法。该方法是基于现场可编程门阵列(FPGA)器件,并运用快速傅里叶变换(FFT) 算法完成的。

Renishaw推出系列新型测量产品

Renishaw前不久在上海新国际博览中心举办的中国数控机床展上，推出了一系列创新的测量设备，其中包括OMP60紧凑型触发式测头和可进行高速刀具破损检测的新型刀具检测系统；在坐标测量机（CMM）工件测量方面，它能够进行高精度、超高速五轴扫描测量。OMP60触发式测头是新一代光学传输系统中的第一个产品，经专门设计，能够与Renishaw现有的所有光学接收器和下一代光学系统兼容。它为各种加工中心和车铣中心提供了触发式测量的便利，可使在机辅助时间节省90％之多，并可减少废品率，降低夹具成本，改善过程控制。

Renishaw新产品介绍

随着社会竞争日趋激烈，有远见的公司必定会通过创新技术来提高生产效率，保持竞争力。