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P波段功率管的射频脉冲加速寿命试验
被引量:
1
1
作者
徐立生
杜银波
苏文华
《半导体情报》
1998年第6期54-58,共5页
概述了P波段功率管在射频脉冲条件下进行加速寿命试验的方法,对P波段功率管可靠性进行了初步预测,并分析了器件失效的原因。
关键词
p波段功率管
加速寿命试验
微波半导体器件
下载PDF
职称材料
题名
P波段功率管的射频脉冲加速寿命试验
被引量:
1
1
作者
徐立生
杜银波
苏文华
机构
电子工业部第十三研究所
出处
《半导体情报》
1998年第6期54-58,共5页
文摘
概述了P波段功率管在射频脉冲条件下进行加速寿命试验的方法,对P波段功率管可靠性进行了初步预测,并分析了器件失效的原因。
关键词
p波段功率管
加速寿命试验
微波半导体器件
Keywords
p
band
p
ower transistor Accelerated life test
分类号
TN385.06 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
P波段功率管的射频脉冲加速寿命试验
徐立生
杜银波
苏文华
《半导体情报》
1998
1
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