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P-Well BiCMOS[B]芯片与制程剖面结构 被引量:6
1
作者 潘桂忠 《集成电路应用》 2017年第10期48-52,共5页
P-Well BiCMOS[B]技术能够实现双极型与CMOS元器件兼容的工艺。为了便于集成,采用双极型制程为基础,引入CMOS元器件工艺,在同一硅衬底上实现兼容的BiCMOS[B]工艺。描述BiCMOS[B]集成电路芯片结构设计,工艺与制造技术,采用该技术得到了... P-Well BiCMOS[B]技术能够实现双极型与CMOS元器件兼容的工艺。为了便于集成,采用双极型制程为基础,引入CMOS元器件工艺,在同一硅衬底上实现兼容的BiCMOS[B]工艺。描述BiCMOS[B]集成电路芯片结构设计,工艺与制造技术,采用该技术得到了芯片制程结构。 展开更多
关键词 集成电路制造工艺 p-well BiCMOS[B]器件剖面结构 芯片剖面结构 制程剖面结构
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LV/HV P-Well BCD[B]技术(1)的芯片与制程剖面结构 被引量:4
2
作者 潘桂忠 《集成电路应用》 2018年第6期41-45,共5页
LV/HV P-Well BCD[B]技术(1)能够实现低压5 V与高压100~700 V(或更高)兼容的BCD工艺。为了便于高低压MOS器件兼容集成,采用源区为硼磷双扩散形成沟道的具有漂移区的偏置栅结构的HV LDMOS器件。改变漂移区的长度,宽度,结深度以及掺杂浓... LV/HV P-Well BCD[B]技术(1)能够实现低压5 V与高压100~700 V(或更高)兼容的BCD工艺。为了便于高低压MOS器件兼容集成,采用源区为硼磷双扩散形成沟道的具有漂移区的偏置栅结构的HV LDMOS器件。改变漂移区的长度,宽度,结深度以及掺杂浓度等可以得到不同的高电压。采用MOS集成电路芯片结构设计﹑工艺与制造技术,依该技术得到了芯片制程结构。 展开更多
关键词 集成电路制造 HV LDMOS结构 LV/HV p-well BCD[B]芯片结构 制程剖面结构
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LV/HV P-Well BCD[B]芯片工艺技术(2)的制程剖面结构 被引量:3
3
作者 潘桂忠 《集成电路应用》 2018年第9期23-27,共5页
LV/HV P-Well BCD[B]技术(2)能够实现低压5 V与高压100~700 V(或更高)兼容的BCD工艺。为了便于高低压MOS器件兼容集成,采用源区为硼磷双扩散形成沟道的具有漂移区的偏置栅结构的HV VDMOS器件。改变漂移区的长度,宽度,结深度以及掺杂浓... LV/HV P-Well BCD[B]技术(2)能够实现低压5 V与高压100~700 V(或更高)兼容的BCD工艺。为了便于高低压MOS器件兼容集成,采用源区为硼磷双扩散形成沟道的具有漂移区的偏置栅结构的HV VDMOS器件。改变漂移区的长度,宽度,结深度以及掺杂浓度等可以得到高电压。采用MOS集成电路芯片结构设计、工艺与制造技术,依该技术得到了芯片制程结构。 展开更多
关键词 集成电路制造 HV LDMOS 结构 LV/HV p-well BCD[B]芯片结构 制程剖面结构
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LV/HV P-Well BCD[C]芯片与制程剖面结构
4
作者 潘桂忠 《集成电路应用》 2018年第5期42-46,共5页
LV/HV P-Well BCD[C]技术能够实现低压5 V与高压100~700 V(或更高)兼容的BCD工艺。为了便于高低压MOS器件兼容集成,采用源区为硼磷双扩散形成沟道的具有漂移区的偏置栅结构的HV LDMOS器件。改变漂移区的长度,宽度,结深度以及掺杂浓度等... LV/HV P-Well BCD[C]技术能够实现低压5 V与高压100~700 V(或更高)兼容的BCD工艺。为了便于高低压MOS器件兼容集成,采用源区为硼磷双扩散形成沟道的具有漂移区的偏置栅结构的HV LDMOS器件。改变漂移区的长度,宽度,结深度以及掺杂浓度等可以得到高电压。采用MOS集成电路芯片结构设计﹑工艺与制造技术,依该技术得到了芯片制程结构。 展开更多
关键词 集成电路制造 工艺 偏置栅结构 LV/HV p-well BCD[C]芯片结构 制程剖面结构
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LV/HV P-Well BiCMOS[B]芯片与制程结构
5
作者 潘桂忠 《集成电路应用》 2018年第2期44-48,共5页
LV/HV P-Well BiCMOS[B]技术能够实现低压5V与高压100~700V(或更高)兼容的BiCMOS工艺。为了便于高低压MOS器件兼容集成,采用具有漂移区的偏置栅结构的HV MOS器件。改变漂移区的长度,宽度,结深度以及掺杂浓度等可以得到高电压。采用MOS... LV/HV P-Well BiCMOS[B]技术能够实现低压5V与高压100~700V(或更高)兼容的BiCMOS工艺。为了便于高低压MOS器件兼容集成,采用具有漂移区的偏置栅结构的HV MOS器件。改变漂移区的长度,宽度,结深度以及掺杂浓度等可以得到高电压。采用MOS集成电路芯片结构设计、工艺与制造技术,依该技术得到了芯片制程结构。 展开更多
关键词 集成电路制造 偏置栅结构 LV/HVp-wellBiCMOS[B]芯片结构 制程剖面结构
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井中方位纵波远探测: 理论、实验与现场应用
6
作者 苏远大 饶博 +4 位作者 孔令文 李盛清 谭宝海 庄春喜 唐晓明 《地球物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第2期630-640,共11页
能够测量井外数十米地质构造距离和方位的远探测声波测井正成为一种重要的地球物理应用技术.1:1地层条件下井外含反射界面的远探测测量和分析为此技术提供了物理验证.本文首先利用虚源和柱面波展开理论推导了充液井孔中单极反射纵波方... 能够测量井外数十米地质构造距离和方位的远探测声波测井正成为一种重要的地球物理应用技术.1:1地层条件下井外含反射界面的远探测测量和分析为此技术提供了物理验证.本文首先利用虚源和柱面波展开理论推导了充液井孔中单极反射纵波方位接收声场的解析形式,通过模拟证明了单井的声波辐射和接收与双井之间的辐射和接收的等效性,在此基础上提出利用两口模型井来实现方位纵波远探测实验,即在测量井中放置多方位反射纵波接收声系,在另一口副井中放置单极子声源向测量井定向辐射纵波以等效来自井外地质体的反射波,依托实验室的模型井群进行井中方位纵波远探测实验研究.实验测量结果表明井中接收反射纵波的幅度和到时对井外反射体(定向辐射波)具有较好的方位灵敏度,可由此来实现井外地质异常体的精准定位.在理论与实验指导下自主设计研制了方位纵波远探测仪器样机并开展了现场井测试成功获得高信噪比的方位反射信号,充分验证了方位纵波远探测技术的准确性和有效性. 展开更多
关键词 单极纵波远探测 平行双井模型 实验测量 测井仪器 方位接收响应
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远探测声波测井处理解释方法发展与展望
7
作者 李宁 刘鹏 +5 位作者 武宏亮 李雨生 张文豪 王克文 冯周 王浩 《石油勘探与开发》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第4期731-742,共12页
远探测声波测井技术(亦称反射声波测井技术)能够从井中探测及评价井外数十米范围内的裂缝、洞穴和断层等地质异常反射体,大大拓展了测井技术的应用范围。在回顾该技术发展历程的同时,重点介绍了远探测声波测井处理解释核心方法、软件和... 远探测声波测井技术(亦称反射声波测井技术)能够从井中探测及评价井外数十米范围内的裂缝、洞穴和断层等地质异常反射体,大大拓展了测井技术的应用范围。在回顾该技术发展历程的同时,重点介绍了远探测声波测井处理解释核心方法、软件和现场应用效果。结合目前油田实际生产需求和现有技术面临的挑战,指出远探测声波测井处理解释方法有5个最重要的发展方向:继目前利用声波时差和密度通过反射系数褶积进行“测井约束下的地震反演”后,突破实现井下实测反射波和地面地震反射波正反演关系的直接建立,同时开展页岩储层裂缝成像、压裂效果评价、随钻地质导向研究及远探测声波测井仪器革新。 展开更多
关键词 远探测声波测井 单极纵波 偶极横波 水平井远探测 三维成像 井震融合 CIFLog软件
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三阱CMOS工艺单粒子闩锁研究
8
作者 沈丹丹 高国平 《中国集成电路》 2023年第5期62-65,共4页
随着数模混合电路在无线应用领域的发展,三阱工艺噪声隔离优点引起设计师的广泛兴趣。RF技术必须把在P-衬底上的模拟、数字和RF电路进行隔离。本文主要讨论三阱(Triple-Well)工艺的电路单粒子闩锁问题。
关键词 p-well Deep-NWELL 单粒子闩锁 可靠性
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一种抑制单粒子瞬态响应的SiGe HBT工艺加固技术仿真
9
作者 易孝辉 谭开洲 +4 位作者 张培健 魏佳男 洪敏 罗婷 徐开凯 《微电子学》 CAS 北大核心 2023年第6期965-970,共6页
基于0.13μm SiGe BiCMOS工艺,开展了无深槽NPN SiGe HBT工艺和器件仿真。模拟了带深P阱SiGe HBT的制备过程、常规电学特性和重离子单粒子效应。该器件与常规器件相比表现出更优的单粒子瞬态(SET)特性,在关态的SET响应峰值下降了80%,在... 基于0.13μm SiGe BiCMOS工艺,开展了无深槽NPN SiGe HBT工艺和器件仿真。模拟了带深P阱SiGe HBT的制备过程、常规电学特性和重离子单粒子效应。该器件与常规器件相比表现出更优的单粒子瞬态(SET)特性,在关态的SET响应峰值下降了80%,在最大特征频率工作点的SET响应峰值下降了27%,瞬态保持时间也大幅减小。使用深N阱和深P阱隔离同时抑制了集电区-衬底结的漂移载流子收集和衬底扩散载流子收集的过程,极大地提高了器件的SET性能。 展开更多
关键词 SiGe BiCMOS SiGe HBT 单粒子瞬态 电荷收集 深P阱
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3200 V双p阱终端VDMOS击穿特性仿真研究
10
作者 李尧 王爱玲 +6 位作者 王奋强 蓝俊 牛瑞霞 张鹏杰 张栩莹 吴回州 刘良朋 《半导体光电》 CAS 北大核心 2023年第6期837-844,共8页
基于场限环终端技术理论,提出了一种具有双p阱结构的垂直双扩散金属氧化物半导体场效应晶体管(VDMOS)。通过数值模拟软件分别仿真了p阱各项参数和漂移区掺杂浓度与击穿电压的关系,提取器件击穿时的表面电场并分析其击穿机理。研究结果表... 基于场限环终端技术理论,提出了一种具有双p阱结构的垂直双扩散金属氧化物半导体场效应晶体管(VDMOS)。通过数值模拟软件分别仿真了p阱各项参数和漂移区掺杂浓度与击穿电压的关系,提取器件击穿时的表面电场并分析其击穿机理。研究结果表明,当漂移区掺杂浓度一定时,击穿电压随p阱数量和结深的增大而增大,随p阱掺杂浓度的增大而先增大后减小;当p阱参数一定时,击穿电压随漂移区掺杂浓度的增大而先增大后减小。经优化器件各项参数,击穿电压(V_(B))达到3 200 V,与传统平面栅型VDMOS相比提升了305%,终端有效长度仅为26μm,表面电场最大值为1.21×10^(6) V/cm,且分布相对均匀,终端稳定性和可靠性高。 展开更多
关键词 VDMOS P阱 漂移区掺杂浓度 击穿电压 表面电场分布
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高温高压井ECD计算 被引量:9
11
作者 郭建华 李黔 高自力 《天然气工业》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第8期72-74,共3页
随着深部油气藏的勘探和开发,高温高压深井及超深井的数量大幅度增加,而高温高压、窄安全密度窗口安全钻井是当前国内外未能很好解决的重大技术难题,钻井工艺技术面临易发生井漏、井喷等事故的挑战,准确计算钻井过程中井下ECD分布对突... 随着深部油气藏的勘探和开发,高温高压深井及超深井的数量大幅度增加,而高温高压、窄安全密度窗口安全钻井是当前国内外未能很好解决的重大技术难题,钻井工艺技术面临易发生井漏、井喷等事故的挑战,准确计算钻井过程中井下ECD分布对突破该技术难关有重要意义。为此,文章从研究高温高压钻井过程中循环温度场分布出发,分析了温度和压力对钻井液密度的影响规律,建立了不同温度和压力条件下的ECD实时耦合模型。该模型由动态压力和温度模型耦合而成。通过计算分析表明,井底钻井液密度和地表钻井液密度有很大差别;温度增加,钻井液密度下降;压力增加,钻井液密度增加。在高温高压钻井过程中,随着循环时间的增加,环空下部井段温度呈指数降低,ECD升高;环空上部井段温度呈指数升高,ECD降低。随着排量增加,环空下部井段温度降低,ECD近似呈线性升高;环空上部井段温度升高,ECD呈指数降低。 展开更多
关键词 钻井 高温 高压 深井 ECD 安全密度窗口
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In0.53Ga0.47As/InP量子阱与体材料的1 MeV电子束辐照光致发光谱研究 被引量:3
12
作者 玛丽娅 李豫东 +4 位作者 郭旗 艾尔肯 王海娇 汪波 曾骏哲 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2015年第15期244-250,共7页
为获得对In0.53Ga0.47As/In P材料在电子束辐照下的光致发光谱变化规律,开展了1 Me V电子束辐照试验,注量为5×1012—9×1014cm-2.样品选取量子阱材料和体材料,在辐照前后,进行了光致发光谱测试,得到了不同结构In0.53Ga0.47As/I... 为获得对In0.53Ga0.47As/In P材料在电子束辐照下的光致发光谱变化规律,开展了1 Me V电子束辐照试验,注量为5×1012—9×1014cm-2.样品选取量子阱材料和体材料,在辐照前后,进行了光致发光谱测试,得到了不同结构In0.53Ga0.47As/In P材料在1 Me V电子束辐照下的不同变化规律;对比分析了参数退化的物理机理.结果显示:试验样品的光致发光峰强度随着辐照剂量增大而显著退化.体材料最先出现快速退化,而五层量子阱在注量达到6×1014cm-2时,就已经退化至辐照前的9%.经分析认为原因有:1)电子束进入样品后,与材料晶格发生能量传递,破坏晶格完整性,致使产生的激子数量减少,光致发光强度降低;电子束辐照在材料中引入缺陷,增加了非辐射复合中心密度,导致载流子迁移率降低.2)量子阱的二维限制作用使载流子运动受限,从而能够降低载流子与非辐射复合中心的复合概率;敏感区域截面积相同条件下,体材料比量子阱材料辐射损伤更为严重.3)量子阱的层数越多,则异质结界面数越多,相应的产生的界面缺陷数量也随之增多,辐射损伤越严重. 展开更多
关键词 In0.53Ga0.47As/In P 量子阱 电子束辐照 光致发光谱
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Pschl-Teller势阱中线性与非线性光学吸收系数的计算(英文) 被引量:8
13
作者 谭鹏 李斌 +1 位作者 路洪 郭康贤 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第7期815-818,共4页
非对称性量子阱中的非线性光学效应因其潜在的实用价值而引起了人们的广泛关注 ,而量子阱内带间的光学吸收问题对研究远红外光学探测器件具有重要的理论指导意义 考虑带间的电子弛豫 ,用量子力学中的密度矩阵算符理论导出了P schl Tel... 非对称性量子阱中的非线性光学效应因其潜在的实用价值而引起了人们的广泛关注 ,而量子阱内带间的光学吸收问题对研究远红外光学探测器件具有重要的理论指导意义 考虑带间的电子弛豫 ,用量子力学中的密度矩阵算符理论导出了P schl Teller势阱中的线性与三阶非线性光学吸收系数的表达式 通过调节P schl Teller势阱中两个可调参数κ和λ ,势阱的形状及其非对称性会随着κ和λ的取值不同而明显不同 ,从而其线性与非线性光学吸收系数的大小也会随势阱参数κ、λ和入射光强的变化而呈规律性的变化 。 展开更多
关键词 Poschl—Teller势阱 吸收系数 非线性光学 非对称性量子阱 密度矩阵算符理论
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泥页岩岩石物理参数测试与分析 被引量:8
14
作者 刘书会 王长江 +1 位作者 罗红梅 汪贺 《油气地质与采收率》 CAS CSCD 北大核心 2016年第6期16-21,33,共7页
泥页岩主要由粘土、碳酸盐矿物和有机质构成,其岩石物理参数主要受这3种成分的影响。由于泥页岩岩石特征的复杂性,尚未有较成熟的岩石物理模型描述其岩性与速度的关系。泥页岩岩石物理基础实验是研究其岩性、含油气性与速度关系的有效方... 泥页岩主要由粘土、碳酸盐矿物和有机质构成,其岩石物理参数主要受这3种成分的影响。由于泥页岩岩石特征的复杂性,尚未有较成熟的岩石物理模型描述其岩性与速度的关系。泥页岩岩石物理基础实验是研究其岩性、含油气性与速度关系的有效方法,济阳坳陷在这方面的研究尚处于起步阶段。通过对渤南地区罗69井泥页岩岩心样品的实验室测试,获得相关的物性参数(密度、孔隙度等)、弹性参数(纵、横波速度及泊松比等)、有机地化参数(有机碳含量)和岩石组构参数。通过对这些参数的交会分析,发现弹性参数(P型、S型、C型参数)可用于泥页岩岩性的区分,而有机碳含量和碳酸盐矿物含量是泥页岩密度和纵、横波速度的重要影响因素。不同温度和压力条件下泥页岩岩心样品纵、横波速度的变化规律表明,纵波速度对压力的变化较为敏感,而横波速度对温度的变化较为敏感。研究成果可以为开展泥页岩地球物理特征评价奠定基础。 展开更多
关键词 罗69井 泥页岩纵波速度 有机碳 碳酸盐矿物
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神经网络专家系统在预测单井日产量上的应用研究 被引量:8
15
作者 彭敦陆 徐士进 +1 位作者 王汝成 郭延军 《石油实验地质》 CAS CSCD 北大核心 1999年第2期156-160,169,共6页
本文全面论述了神经网络专家系统及其开发步骤,并利用所开发出的神经网络专家系统,以胜利樊家油田10口已知油井的储层参数和原油参数及单井日产量为学习样本,成功地预测了2口预测井的单井日产量。说明利用神经网络专家系统可以克... 本文全面论述了神经网络专家系统及其开发步骤,并利用所开发出的神经网络专家系统,以胜利樊家油田10口已知油井的储层参数和原油参数及单井日产量为学习样本,成功地预测了2口预测井的单井日产量。说明利用神经网络专家系统可以克服常规的统计方法和模糊方法无法正确确定各参数隶属度及权重分配的缺点,并指出通过神经网络专家系统进行油田预测的准确、快速及有效性。 展开更多
关键词 神经网络 专家系统 单井 日产量
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带双井势函数的一维p-Laplace方程解的性态 被引量:2
16
作者 周斌 何丹 《吉首大学学报(自然科学版)》 CAS 2010年第3期21-23,共3页
研究了一类带双井势函数的一维p-Laplace方程解的具体性态,得出当ε充分小时,解在其零点以外的区域内与±1非常接近这个结论.
关键词 p-Laplace 双井势函数 n-模解
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Na掺杂p型ZnO和ZnO/ZnMgO多量子阱结构基LED的制备与室温电注入发射紫蓝光 被引量:1
17
作者 叶志镇 林时胜 +8 位作者 何海平 顾修全 陈凌翔 吕建国 黄靖云 朱丽萍 汪雷 张银珠 李先杭 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第8期1433-1435,共3页
在硅单晶上,采用了环境友好的ZnO/Zn0.9Mg0.1O多层量子阱结构作为有源层,Na作为p型掺杂元素,制备了ZnO发光二极管(LED).该LED在室温电注入条件下,实现了较强的紫蓝发光,且有效控制了缺陷发光.这项工作将为ZnO LED走向应用起到重要的推... 在硅单晶上,采用了环境友好的ZnO/Zn0.9Mg0.1O多层量子阱结构作为有源层,Na作为p型掺杂元素,制备了ZnO发光二极管(LED).该LED在室温电注入条件下,实现了较强的紫蓝发光,且有效控制了缺陷发光.这项工作将为ZnO LED走向应用起到重要的推进作用. 展开更多
关键词 LED Na掺杂 P型ZNO ZnO/ZnMgO多量子阱
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修正的页岩气等温吸附模型 被引量:7
18
作者 张跃磊 李大华 +1 位作者 王青华 郭东鑫 《西南石油大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2016年第1期107-112,共6页
针对Langmuir等温吸附方程及修正的双朗格缪尔模型(D-Langmuir)在研究非均质吸附介质页岩等温吸附时,对实验数据拟合精度及稳定性不高的问题,展开了新的等温吸附方程研究,研究中将吸附系统内不同吸附介质的吸附特征转化为系统内压力的... 针对Langmuir等温吸附方程及修正的双朗格缪尔模型(D-Langmuir)在研究非均质吸附介质页岩等温吸附时,对实验数据拟合精度及稳定性不高的问题,展开了新的等温吸附方程研究,研究中将吸附系统内不同吸附介质的吸附特征转化为系统内压力的实际作用效果,对D-Langmuir模型进行压力修正,得到新的、适用于多吸附介质的P-Langmuir等温吸附模型。将以上模型应用于渝东南渝页1井共21个样品的等温吸附实验数据的拟合,结果表明:Langmuir模型平均误差在-0.012 0~80.021 2 m^3/t;D-Langmuir模型平均误差在-0.003 64~0.021 20 m^3/t;P-Langmuir等温吸附模型相关系数的平方0.992 5≤R^2≤0.999 8,平均误差在-0.003 25~0.003 21 m^3/t,相比于Langmuir方程及D-Langmuir方程,P-Langmuir模型拟合精度更高,稳定性更好,对更准确地评价页岩吸附气量具有一定的实际意义。 展开更多
关键词 页岩气 吸附系统 压力修正 吸附模型 P-Langmuir模型 渝页1井
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分子量规整聚p-乙烯基苯甲酸及苯乙烯p-乙烯基苯甲酸两嵌段共聚物的合成 被引量:5
19
作者 魏柳荷 朱明强 +3 位作者 张昕 杜福胜 李子臣 李福绵 《高分子学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2002年第1期123-126,共4页
To avoid the damage to catalytic system in ATRP by the carboxyl groups in vinyl benzoic acid, a well defined poly( p vinyl benzoic acid) was synthesized via ATRP in the tertiary butyl ester form. The ATRP of t butyl p... To avoid the damage to catalytic system in ATRP by the carboxyl groups in vinyl benzoic acid, a well defined poly( p vinyl benzoic acid) was synthesized via ATRP in the tertiary butyl ester form. The ATRP of t butyl p vinyl benzoate ( t BVB) was studied kinetically. The results showed that t BVB can be polymerized in a controlled way by ATRP. It was found that the polymerization rate of t BVB is much faster than that of St, meaning that the electron withdrawing ester group affects the polymerization obviously. Well defined diblock copolymers of St and t BVB were prepared by using bromo terminated PBVBs as macroinitiators via ATRP. After removal of the t butyl group by hydrolysis, well defined amphiphilic diblock copolymers of styrene and p vinyl benzoic acid (PSt b PBVA) were obtained. 展开更多
关键词 可控聚合 原子转移自由基聚合 p-乙烯基苯甲酸 苯乙烯 两嵌段共聚物 合成
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赝形δ掺杂 AlGaAs/InGa As/GaAs量子阱的光致发光性质研究
20
作者 王晓光 常勇 +4 位作者 桂永胜 褚君浩 曹昕 曾一平 孔梅影 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第5期333-337,共5页
测量了一系列不同隔离层 (spacer)厚度、阱宽和硅 δ掺杂浓度的单边掺杂的赝形高电子迁移率晶体管 (p-HEMTs)量子阱的变温和变激发功率光致发光谱 ,详细研究了 (el- hh1)和 (e2 - hh1)两个发光峰之间的动态竞争发光机制 ,并运用有限差... 测量了一系列不同隔离层 (spacer)厚度、阱宽和硅 δ掺杂浓度的单边掺杂的赝形高电子迁移率晶体管 (p-HEMTs)量子阱的变温和变激发功率光致发光谱 ,详细研究了 (el- hh1)和 (e2 - hh1)两个发光峰之间的动态竞争发光机制 ,并运用有限差分法自洽求解薛定谔方程和泊松方程以得出电子限制势、子带能级以及相应的电子包络波函数、子带占据几率和δ掺杂电子转移效率 ,研究了两个峰的相对积分发光强度随隔离层厚度、阱宽和δ掺杂浓度的变化 . 展开更多
关键词 量子阱 光致发光性质 Δ掺杂 砷化镓 半导体
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