基于边缘扫描技术的PCB测试节点优化设计

介绍了一种可用于PCB测试的方法。边缘扫描技术是一种先进的数字电路测试技术,可广泛应用于大规模集成电路的测试。本文详细介绍了边缘扫描技术的测试电路结构及其工作模式,并将其应用于PCB的测试,本文利用基于贪婪策略的最优化算法分析了PCB的测试节点,可以利用最小的测试节点集实现PCB的测试。实际应用电路的分析结果表明,本文介绍的PCB测试方法,可以有效地降低PCB级测试的硬件开销。

PCB测试技术研究进展

PCB测试在高科技信息产业、尖端国防科技等领域具有重要意义。本文分析了PCB测试的重要性、复杂性和面临的挑战。把PCB测试技术归结为可测性技术、非向量测试技术和自动成像检测技术三大类,详细介绍了它们的测试原理、优缺点;比较了常用PCB测试设备的性能特点;分析了目前PCB测试的研究热点及发展方向。

基于FPGA的PCB测试机硬件电路设计

为了提高PCB测试机的测试速度,简化电路板的设计,提高系统的可重构性和测试算法移植的方便性,提出了一种基于FPGA的PCB测试机的硬件控制系统设计方案.设计中选用Altera公司的现场可编程门阵列(FPGA)EP1K50,利用EDA设计工具Synplify、Modelsim、QuartusⅡ以及Verilog硬件描述语言,完成了控制系统的硬件设计及调试,解决了由常规电路难以实现的问题.

基于FPGA的PCB测试机测试算法及其实现

印刷电路板(简称PCB)测试机的测试算法是PCB测试机的核心,它直接决定测试机的测试功能和测试速度。在现场可编程门阵列(Field programmable gate array,FPGA)上实现此算法,不仅简化了电路板设计,而且提高了系统的测试速度及系统的可重构性。论文研究了PCB测试中的主要测试算法(导通测试和绝缘测试)的FPGA实现,给出了测试算法的状态图,以及应用Altera公司的EDA设计的仿真图。实验结果表明此方法是一种可行和有效的方法。

PCB测试机的基本测试原理与方法

文章首先介绍PCB测试机系统组成,根据PCB测试机的基本原理即欧姆定理,采用先自检,再自学习,最后针对不同的检测要求,采用不同的测试方法,有两点间导通测试,两点间绝缘测试,及多点绝缘测试。测出被测点间是导通或者绝缘。

PCB测试机硬件系统的调试

论文首先介绍PCB测试机系统组成,其次对PCB测试机的硬件系统分析了两种典型的故障。通过观察故障现象找出对应的故障诊断方法,并对故障原因进行分析。

开尔文四线测试方式在PCB测试机中的应用

分析了PCB测试机中的普通二线式测试原理、开尔文(Kelvin)四线测量方法原理,介绍了开尔文四线测量方法的优点。

基于边界扫描技术的PCB测试平台设计

在PCB测试领域,边界扫描测试技术由于设备量低、成本低、测试工程开发简单等优势,得到了广阔的发展。我们以边界扫描测试技术为基础设计了PCB(印刷电路板)测试平台,并对许多复杂的PCB进行了测试。同时我们根据在测试开发中遇到的问题,对可测性设计提出了一些建议。

PCB测试与设计规程

随着微型化程度不断提高，元件和布线技术也取得巨大发展，例如BGA外壳封装的高集成度的微型IC，以及导体之间的绝缘间距缩小到O．5mm，这些仅是其中的两个例子。电子元件的布线设计方式，对以后制作流程中的测试能否很好进行，影响越来越大。下面介绍几种重要规则及实用提示。

PCB分析仪实现高速高精度PCB测试

根据安捷伦科技公司所获取的数据，预计从2014年底到2017年，PCB的制造市场每年平均成长率约5％，其中10％是来自于移动终端的PCB，如手机、平板或PC等。为了保证产品的品质，很多情况下，工厂需要对移动产品的PCB进行全测。但由于对移动PCB的测量速度、阻抗要求都比较高，并且元器件的数量非常多，因此，不仅要求对PCB进行全自动测量，

基于SolidWorks Flow Simulation的PCB测试设备机柜散热仿真分析

为了解决PCB测试设备在机柜中温度过高导致被测产品损坏的问题。根据实际应用场景,设计出一款具有散热高效、结构紧凑、制作成本低的PCB测试设备机柜。结合PCB检测设备整体结构对其所在的机柜进行结构设计和散热仿真分析。主要以4台PCB测试设备满载运行在机柜中散热情况为研究对象。根据实际结构,使用SolidWorks对机柜和测试设备简化仿真模型进行建模,将简化模型导入到SolidWorks Flow Simulation中对机柜进行散热仿真分析。通过分析计算得出散热的分布情况和测试设备关键地方的温升数值,判断机柜散热结构的散热情况是否与预期结果一致。试验结果表明:常温下,在机柜中4台PCB测试设备满载测试时检测区域最高温度达到28℃左右,能够可持续运行状态并保持稳定工作。通过试验验证,机柜的散热实际温度与其散热仿真结果相符,证实了该机柜散热结构设计的合理性以及正确性,并且确定机柜散热结构设计方案。

基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化

利用集成电路自动测试设备(ATE)测试高速DAC射频参数时,由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因,导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此,文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法;其次为解决上述问题,对测试码的生成以及PCB的布局等进行一系列改进,并将改进前后的测试值与典型值进行对比。结果表明,改进措施成效显著,大大优化了高速DAC射频参数的测试指标,使得SFDR等高频DAC动态类参数指标接近或达到实装测试值。

边界扫描技术在PCB结构测试中的应用

介绍了在对PCB进行结构性测试时采用的边界扫描方法。作为一种高效实用的数字电路测试技术,边界扫描方法可广泛应用于大规模集成电路的测试,解决PCB测试点减少的问题(针对于物理探测点少)。概括了使用边界扫描技术进行PCB测试的结构形式及其工作模式,并阐述利用拓扑优化算法获得最小节点集从而实现理想的PCB的结构性检测。

PCB功能测试系统的设计与实现

本文介绍了一种搭建PCB功能测试系统的方法。该测试系统采用总线结构的思想,利用继电器矩阵灵活配置输入/输出端口的特点,将测试资源和被测单元(UUT)的信号连接到总线上,实现信号间互通。系统自动化程度高,可靠性和扩展性强,使用方便灵活。

基于USB的PCB功能测试仪

本文提出了USB虚拟仪器的分层结构设计和实施要点。开发了USB接口模块并实现了基于USB总线的PCB功能测试系统。最后结合当前的网络通信技术提出了虚拟仪器的发展趋势并提出基于VI的实验模式。

一种PCB自动测试系统的设计

尽早发现PCB故障，及时采取相应的措施，可以大大降低生产成本，提高产品的质量和生产效率。PCB自动测试系统主要由上位机、USB总线、核心控制模块、路内测试模块、多路开关矩阵及针床组成。路内测试模块主要由处理电路、通道选择器、测试电路、模拟多路开关、PIC单片机组成。微处理器通过I2C总线控制PIC单片机，通过PIC单片机控制通道选择器和模拟多路开关，从而达到控制整个测试模块的测试工作的目的。从测试结果可以看出，设计的PCB自动测试系统能够较好地实现路内测试的功能。

基于MC9S08AW32的PCB功能测试系统

根据传统功能测试系统的现状和存在的主要问题,文中提出一种基于MC9S08AW32的PCB功能测试系统的设计。系统采用总线结构思想,借助继电器矩阵灵活配置I/O端口的特点,不需改动硬件,仅用软件设置,实现测试资源和UUT的信号互通,具有较强的灵活性和扩展性。经试验和实际生产已证明系统稳定性好、可靠性高、完全满足客户需求。

继电器矩阵在PCB功能检测中的应用

介绍了继电器矩阵结构的特点、基本驱动控制方式,重点描述了矩阵继电器在PCB功能检测系统中的开发与应用,提出了级联式继电器网络的拓扑结构的实现。通过PLC软件灵活设置被测电路板的输入/输出通道,而不改动任何硬件连线,实现了测试信号源及输出信号处理器与被测PCB的I/O引脚之间的灵活连接,节约了测试系统的走线,使PCB功能检测系统具有一定的通用性。

基于STM8S207单片机的测试架系统设计

为了对电子行业中的PCB板电压进行测试,采用STM8S207单片机控制继电器的测试架,通过PC实时检测电压并显示。通过单片机控制继电器对一些强电进行控制的实验,它可以控制5V和12V电压的输出和一定范围的交直流检测,并且可以通过485通信把检测的结果传送到PC机。实验结果证明,该测试架具有可以用于对不同电路适时的控制,对一些新产品的PCB板测试,在测试过程中只要把对应的XH-2连接好,就可直接在PC机上进行相应的测试,使用便捷,性能可靠。