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薄芯板层偏影响因素及对策研究
1
作者
李娟
徐华胜
李艳国
《印制电路资讯》
2018年第5期111-114,共4页
薄芯板(不含铜厚度≤0.11mm的芯板)生产制作过程中,板损与层压偏位为两大较难控制点,本文集中于薄芯板层压偏位影响因素的研究与改善,主要着力于内层图形涨缩、PE冲孔精度、层压过程三方面的影响。结果表明,内层图形蚀刻后会存在...
薄芯板(不含铜厚度≤0.11mm的芯板)生产制作过程中,板损与层压偏位为两大较难控制点,本文集中于薄芯板层压偏位影响因素的研究与改善,主要着力于内层图形涨缩、PE冲孔精度、层压过程三方面的影响。结果表明,内层图形蚀刻后会存在局部非线性涨缩,残铜率越小、非线性涨缩越大,最大可达到±12mil,从流胶均匀性的角度考虑,点状封边优于正六边形封边优于块状封边,在实际应用过程中可根据残铜率综合考虑。
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关键词
薄芯板
层偏
非线性涨缩
pe冲孔精度
层压过程
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职称材料
题名
薄芯板层偏影响因素及对策研究
1
作者
李娟
徐华胜
李艳国
机构
广州兴森快捷电路科技有限公司
出处
《印制电路资讯》
2018年第5期111-114,共4页
文摘
薄芯板(不含铜厚度≤0.11mm的芯板)生产制作过程中,板损与层压偏位为两大较难控制点,本文集中于薄芯板层压偏位影响因素的研究与改善,主要着力于内层图形涨缩、PE冲孔精度、层压过程三方面的影响。结果表明,内层图形蚀刻后会存在局部非线性涨缩,残铜率越小、非线性涨缩越大,最大可达到±12mil,从流胶均匀性的角度考虑,点状封边优于正六边形封边优于块状封边,在实际应用过程中可根据残铜率综合考虑。
关键词
薄芯板
层偏
非线性涨缩
pe冲孔精度
层压过程
分类号
TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
薄芯板层偏影响因素及对策研究
李娟
徐华胜
李艳国
《印制电路资讯》
2018
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