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TOPCon电池中的EL卡点印缺陷分析
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作者 李国庆 居瑞智 +2 位作者 谢路华 李香伟 谢致任 《集成电路应用》 2024年第6期30-33,共4页
阐述PE-Poly是N型TOPCon太阳电池工艺中的难点与关键,电致发光(EL)卡点印是PE-Poly路线TOPCon电池主要缺陷之一。基于PE-poly路线TOPCon电池量产设备和工艺,通过电性能测试、椭偏仪测试、QE测试以及对比实验,针对此类电池EL缺陷问题进... 阐述PE-Poly是N型TOPCon太阳电池工艺中的难点与关键,电致发光(EL)卡点印是PE-Poly路线TOPCon电池主要缺陷之一。基于PE-poly路线TOPCon电池量产设备和工艺,通过电性能测试、椭偏仪测试、QE测试以及对比实验,针对此类电池EL缺陷问题进行分类研究,为电池片制程良率提升提供改善方向。 展开更多
关键词 TOPCon电池 pe-poly 隧穿氧化层 原位掺杂 界面
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