浅谈PEEK材料电特性测量及其对IGBT子模组电场分布影响

随着科学技术的快速发展,电力电子技术被越来越多地应用于各个领域,而作为其核心部件的绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的运行可靠性和性能优化已成为当前的研究热点。聚醚醚酮(PEEK)具有优异的力学性能、耐高温和耐化学腐蚀性,在 IGBT子模块框架等关键零部件领域具有广阔的应用前景。然而, PEEK的电学性能,特别是导电和绝缘特性,直接影响子模块内部电场分布,进而影响整个系统的稳定和安全。

材料电特性的自动化测量研究

本文针对物理学院凝聚态物理实验室采用人工读数测量手段落后的现状,研究了材料电特性的自动化测量方法,实现了材料电特性测量的自动化.

应用C-V测量研究铁电薄膜材料的电特性

通过分析钛酸铋铁电薄膜材料MFS结构的C V特性曲线 ,发现经过快速退火工艺处理的钛酸铋铁电薄膜的剩余极化强度Pr 提高 ,界面上固定电荷的分布和性质发生了变化。

船舶多孔结构材料介电特性数值实时测量仿真

针对当前介质介电特性数值测量方法存在测量误差大和耗时长的问题,提出基于自由空间法的船舶多孔结构材料介电特性数值实时测量方法。以样本表面密度均匀、样本端面光滑为条件完成测量样本制备。基于测量样本制备结果,引入自由空间法,通过发射天线实现微波信号向自由空间传输,使电磁波与待测多孔结构材料接触时产生反射和透射现象,天线接收反射与透射信号,测量发射与透射系数,融合其与介电常数之间的关系而获取多孔结构材料介电特性数值。判断计算结果是否存在厚度谐振问题,假设不存在厚度谐振问题,那么可将计算结果直接当作最终测量结果;假设存在厚度谐振问题,那么利用修正公式获取船舶多孔结构材料介电特性数值最终测量结果。实验结果表明,所提方法具有测量精度和效率高的优点。上述方法实用性和合理性均优于当前相关研究,具有鲁棒性。

超磁致伸缩材料的特性参数测量及其应用研究

超磁致伸缩材料（Ｔｂ０.２７Ｄｙ０.７３Ｆｅ１.９５）是一种新型的功能材料，具有应变大、响应快、能量传输密度高等特点。本文介绍国产区域熔炼法制备的多晶超磁致伸缩材料主要特性参数的测量方法、结果，并将实测特性与国外同类材料特性进行了比较，表明国产材料具有较佳的性能；还介绍了采用该材料研制的电－气动伺服压力控制阀，给出了电－机械转换器静、动态特性曲线和电－气动伺服压力控制阀输出特性曲线。实验结果表明，研制的转换器具有好的频率响应特性，较宽的输出位移控制范围；压力阀的控制特性是满意的。

电特性测量程序的设计

介绍了我们在材料电特性测量中,使用VisualBasic6.0编制的电特性自动化测量的程序,电表的控制方法,数据处理方法以及程序的使用方法.

微机电系统(MEMS)的测量热点

微机电系统(MEMS)经10年的实际应用,已证实可批量生产,首先在压力传感器和加速度计方面获得成功,以其体积小巧和灵敏度高,在许多应用中代替传统的压力传感器和加速计,例如用于汽车防撞气囊,产量每月超过一百万支。随着时间的推移,出现速率传感器、陀螺、射频开关、光学开关和化学/生物MENS,亦即进入传统传感器并超越传统传感器的领域。 MEMS既在半导体工艺基础上发展而来,但涉及材料、技术和测量又比半导体工艺复杂。

HP4191A高频阻抗分析仪的校准及维护

HP4 191A高频阻抗分析仪是广泛应用于电子元器件、电子材料的高频特性测量 ,以及电路和天线输入输出阻抗的测量。HP4 191A的测量准确度实际上取决于使用校准终端的准确度和校准的正确性。

绝缘与介电材料

Y2000-62040-928 0019785特性化1(含3篇文章)=Session TC4:characterization I[会,英]//Proceedings of 16th IEEE Instrumentationand Measurement Technology Conference.Vol.2.-928～945(F)本部分收录3篇文章。题目是:用于轨道运行、运载器和其他条件中多种重力环境估计的比较工具,受伤元件近场特性化用的测量基准,绝缘材料的介电常数横断成象特性化和部分放电现象之间的关系。

绝缘与介电材料

0116380应用C-V测量研究铁电薄膜材料的电特性[刊]/李岩//测控技术.—2001,20(6).—64～65(E)通过分析钛酸铋铁电薄膜材料MFS结构的C-V特性曲线,发现经过快速退火工艺处理的钛酸铋铁电薄膜的剩余极化强度Pr提高,界面上固定电荷的分布和性质发生了变化。参40116381掺钽的二氧化钛电容-压敏陶瓷电学性能研究[刊]/李长鹏//压电与声光.—2001,23(2).—113～115,123(L)液体媒质非接触型压电超声马达机理研究(见0118108)测变压器绕组介质损耗因数时应注意的问题(见0116456)

磁性材料

0010780铁电薄膜材料Ⅰ-Ⅴ特性的测量[刊]//压电与声光.—2000,22(2).—124～126(L)介绍了测量铁电材料Ⅰ-Ⅴ特性的原理和电路,并对 PYZT 铁电薄膜试样进行了电滞回线和Ⅰ-Ⅴ特性的测量,指出铁电材料具有其特有的Ⅰ-Ⅴ特性曲线。因此。