静态真空度对PIN-反冲质子探测系统测量的影响

在用于脉冲中子辐射场测量的PIN-反冲质子探测系统中,静态真空的获得和保持是顺利开展测试、获取可信结果的重要保证。论文从真空度对测量产生影响的两个主要方面着手进行了研究:(1)计算了真空度对中子测量计数损失的影响;(2)分析了适于PIN探测器使用的真空条件。从两方面综合考虑,提出实际应用时将系统静态真空指标确定为百帕左右是合理和可行的。