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集合锐积在PLA测试中的应用研究
1
作者
甘庆辉
丛静
马光胜
《电脑学习》
1997年第3期4-5,共2页
首先讨论PLA结构和集合锐积的性质,然后讨论了集合锐积在PLA测试过程中的应用,最后分析了集合锐积在程序实现时遇到的问题以及目前的解决方法。
关键词
pla测试
集合锐积
时空效率
数字集成电路
测试
下载PDF
职称材料
题名
集合锐积在PLA测试中的应用研究
1
作者
甘庆辉
丛静
马光胜
机构
哈尔滨工程大学计算机系
出处
《电脑学习》
1997年第3期4-5,共2页
文摘
首先讨论PLA结构和集合锐积的性质,然后讨论了集合锐积在PLA测试过程中的应用,最后分析了集合锐积在程序实现时遇到的问题以及目前的解决方法。
关键词
pla测试
集合锐积
时空效率
数字集成电路
测试
分类号
TN431.207 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
集合锐积在PLA测试中的应用研究
甘庆辉
丛静
马光胜
《电脑学习》
1997
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