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4H-SiC pn结型二极管击穿特性中隧穿效应影响的模拟研究
1
作者
吕红亮
张义门
张玉明
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第10期2541-2546,共6页
基于 4H SiC材料特性 ,建立了 4H SiCpn结型二极管的击穿模型 .该模型在碳化硅器件中引入雪崩倍增效应和隧穿效应 .利用该模型 ,分析了隧穿效应对器件击穿特性的影响 ;解释了不同的温度和掺杂条件下 ,器件的击穿机理 .
关键词
4H-SIC
pn结型
二极管
击穿特性
隧穿效应
碳化硅器件
雪崩倍增效应
原文传递
PN结温度传感器及其应用
被引量:
1
2
作者
关辉
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
1989年第4期17-21,共5页
本文介绍了PN结温度传感器的生产工艺、外型结构、主要技术参数和典型应用,对使用和生产人员有一定参考作用。
关键词
温度传感器
pn结型
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职称材料
题名
4H-SiC pn结型二极管击穿特性中隧穿效应影响的模拟研究
1
作者
吕红亮
张义门
张玉明
机构
西安电子科技大学微电子所
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第10期2541-2546,共6页
文摘
基于 4H SiC材料特性 ,建立了 4H SiCpn结型二极管的击穿模型 .该模型在碳化硅器件中引入雪崩倍增效应和隧穿效应 .利用该模型 ,分析了隧穿效应对器件击穿特性的影响 ;解释了不同的温度和掺杂条件下 ,器件的击穿机理 .
关键词
4H-SIC
pn结型
二极管
击穿特性
隧穿效应
碳化硅器件
雪崩倍增效应
Keywords
silicon carbide
pn
diode
breakdown
tunneling effect
impact ionization
model
分类号
TN31 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
PN结温度传感器及其应用
被引量:
1
2
作者
关辉
机构
宽甸晶体管厂
出处
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
1989年第4期17-21,共5页
文摘
本文介绍了PN结温度传感器的生产工艺、外型结构、主要技术参数和典型应用,对使用和生产人员有一定参考作用。
关键词
温度传感器
pn结型
分类号
TP212 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
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1
4H-SiC pn结型二极管击穿特性中隧穿效应影响的模拟研究
吕红亮
张义门
张玉明
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
0
原文传递
2
PN结温度传感器及其应用
关辉
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
1989
1
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职称材料
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