单中心评估除颤阈值对全皮下植入型心律转复除颤器放电事件的预测价值

目的探讨全皮下植入型心律转复除颤器(S-ICD)植入术中除颤阈值(DFT)测试对后期放电事件的预测价值。方法选择2017年1月至2021年6月在新疆医科大学第一附属医院植入S-ICD并至少随访3个月的患者,按照术中有无DFT测试及PRAETORIAN评分分为DFT测试组、DFT未测试组,PRAETORIAN评分≤45分组、>45分组。回顾性收集患者一般资料并分析其临床特点、放电事件和并发症等。初步探讨DFT测试对后期放电事件的预测价值,以及复律失败风险极低患者的不恰当放电概率是否随PRAETORIAN评分的增高而增大。结果研究纳入41例患者,其中男31例,年龄(54.9±15.0)岁,年龄范围18~85岁。所有患者均未出现术后并发症。中位随访4个月内,10例患者发生37次放电事件。DFT测试组与DFT未测试组不恰当放电患者数(1对1,P=1.000)及不恰当放电总次数(10对1,P=0.064)差异无统计学意义。PRAETORIAN评分≤45分组与>45分组不恰当放电患者数差异无统计学意义(0对2,P=0.133),不恰当放电总次数差异具有统计学意义(0对11,P<0.001)。结论S-ICD植入术中DFT测试对患者后期放电事件影响较小。复律失败风险极低患者的PRAETORIAN评分越高,不恰当放电可能性越大,该结论有待扩大样本量加以确认。