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题名位敏探测器表面反射损耗的优化
被引量:2
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作者
孙晓斌
唐九耀
吴旭明
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机构
浙江大学物理系
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出处
《光电子技术》
CAS
2001年第3期194-196,共3页
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文摘
本文通过计算 Si O2 单层以及 Si O2 和 Si3N4组成的双层减反膜对不同波长的反射率 ,给出了位敏探测器表面反射损耗的优化。
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关键词
反射损耗
导纳特征矩阵法
位置传感器
位敏探测器
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Keywords
psd, reflection loss, characteristic admittance matrix
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分类号
TP212
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名薄膜膜系计算的计算机程序设计
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作者
马前
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机构
长城计量测试技术研究所
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出处
《航空计测技术》
1999年第1期23-24,45,共3页
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文摘
根据膜堆的特征矩阵,求出单层膜的光学导纳,在单层膜的基础上,进行层层递推,叠加起来,求出膜难的等效导纳,计算报幅反射系数,最后求出整个膜系的反射率、透射率。
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关键词
膜堆特征矩阵
光学导纳
计算机程序
薄膜
膜系
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Keywords
characteristic matrix of film pile, Reflect coeffient of the amplitude, Optical admittance, Reflectivity,Transmissivity
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分类号
O484.8
[理学—固体物理]
TB43
[一般工业技术]
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