利用加速器质谱学中的入射离子X射线方法测定^(79)Se的半衰期

利用加速器质谱学中的入射离子X射线方法(PX-AMS)对79Se的半衰期进行了测定。用这一直接测量79Se原子数的方法得到新的79Se半衰期为(2.80±0.36)×10~5a。利用同样的方法也测定了75Se的半衰期,75Se半衰期的测定结果显示利用PX-AMS方法对79Se半衰期的测定结果是可靠的。