并行折叠计数器的BIST方案

本文提出了一种新的基于初始状态的并行折叠计数结构,并给出了建议的多扫描链的BIST方案.与国际上同类方法相比,该方案需要更少的测试数据存储容量、更短的测试应用时间,其平均测试应用时间是同类方案的0.265%,并且能很好地适用于传统的EDA设计流程.

基于自动测试系统的并行测试软件设计

本文首先论述在自动测试系统中以串行测试架构为基础的硬件结构设计，优化测试资源和硬件接口模式；其次，选用多进程／多线程技术来实现并行测试软件的设计，并提出了运用DLL、消息传递和内存映射等多种技术方法来解决多进程之间的数据共享以及测试资源问题；最后，给出相应实例，用于指导并行自动测试系统的软件开发；在工程应用中，采用其中一种或多种技术的组合来满足实际需要。