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PbFCl闪烁晶体中十字状缺陷的成因分析
1
作者
张国庆
任国浩
+3 位作者
商珊珊
孙丹丹
骆家亮
赵珊茸
《人工晶体学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第12期2482-2487,2494,共7页
坩埚下降法生长的PbFCl晶体中的十字状缺陷对晶体的透光性能有较大影响。用电子背散射衍射测量了十字状缺陷的结晶学方位,并用X射线粉晶衍射、热重-差热分析、扫描电镜以及选区电子衍射对含十字状缺陷和不含十字状缺陷的晶体的结构和成...
坩埚下降法生长的PbFCl晶体中的十字状缺陷对晶体的透光性能有较大影响。用电子背散射衍射测量了十字状缺陷的结晶学方位,并用X射线粉晶衍射、热重-差热分析、扫描电镜以及选区电子衍射对含十字状缺陷和不含十字状缺陷的晶体的结构和成分进行了对比研究。结果表明,十字状缺陷两臂分别平行于[110]和[110]方向,含十字状缺陷的晶体中存在纳米Pb颗粒。据此提出一种十字状缺陷成因的假说,认为PbCl2原料受热分解产生的Pb颗粒在PbFCl晶体中产生应力点,十字状缺陷是应力作用下沿[110]方向和[110]方向形成的微小开裂。
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关键词
pbfcl晶体
十字状缺陷
选区电子衍射
电子背散射衍射
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职称材料
题名
PbFCl闪烁晶体中十字状缺陷的成因分析
1
作者
张国庆
任国浩
商珊珊
孙丹丹
骆家亮
赵珊茸
机构
中国地质大学(武汉)地球科学学院
中国科学院上海硅酸盐研究所
出处
《人工晶体学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第12期2482-2487,2494,共7页
基金
国家自然科学基金(51102254
91022028
41372058)
文摘
坩埚下降法生长的PbFCl晶体中的十字状缺陷对晶体的透光性能有较大影响。用电子背散射衍射测量了十字状缺陷的结晶学方位,并用X射线粉晶衍射、热重-差热分析、扫描电镜以及选区电子衍射对含十字状缺陷和不含十字状缺陷的晶体的结构和成分进行了对比研究。结果表明,十字状缺陷两臂分别平行于[110]和[110]方向,含十字状缺陷的晶体中存在纳米Pb颗粒。据此提出一种十字状缺陷成因的假说,认为PbCl2原料受热分解产生的Pb颗粒在PbFCl晶体中产生应力点,十字状缺陷是应力作用下沿[110]方向和[110]方向形成的微小开裂。
关键词
pbfcl晶体
十字状缺陷
选区电子衍射
电子背散射衍射
Keywords
PbFC1 crystal
criss-cross-like defect
SAED
EBSD
分类号
O775 [理学—晶体学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
PbFCl闪烁晶体中十字状缺陷的成因分析
张国庆
任国浩
商珊珊
孙丹丹
骆家亮
赵珊茸
《人工晶体学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013
0
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