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微波印刷板电路基片复介电常数测量研究
被引量:
2
1
作者
卜玲慧
向博
窦文斌
《宇航计测技术》
CSCD
2013年第5期12-18,共7页
本文研究传输线法测量微波印刷板电路基片的复介电常数。该方法以矢量网络分析仪作为测量仪器,使用与同轴测量端口相匹配的带状线传输线作为待测结构。带状线的复介电常数信息反映在其特征阻抗和复传播常数中,特征阻抗和复传播常数可由...
本文研究传输线法测量微波印刷板电路基片的复介电常数。该方法以矢量网络分析仪作为测量仪器,使用与同轴测量端口相匹配的带状线传输线作为待测结构。带状线的复介电常数信息反映在其特征阻抗和复传播常数中,特征阻抗和复传播常数可由其ABCD矩阵得到。由矢量网络分析仪测量得到的二端口散射矩阵(即S参数矩阵)可直接转换为ABCD矩阵,由此求出介质基片的复介电常数。为得到带状线正确的S参数,需要对测量系统进行校准。本文采用由TRL校准原理衍生而来的校准方法做校准。
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关键词
介电常数
损耗角正切
+带状线
trl
校准技术
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职称材料
题名
微波印刷板电路基片复介电常数测量研究
被引量:
2
1
作者
卜玲慧
向博
窦文斌
机构
东南大学毫米波国家重点实验室
出处
《宇航计测技术》
CSCD
2013年第5期12-18,共7页
文摘
本文研究传输线法测量微波印刷板电路基片的复介电常数。该方法以矢量网络分析仪作为测量仪器,使用与同轴测量端口相匹配的带状线传输线作为待测结构。带状线的复介电常数信息反映在其特征阻抗和复传播常数中,特征阻抗和复传播常数可由其ABCD矩阵得到。由矢量网络分析仪测量得到的二端口散射矩阵(即S参数矩阵)可直接转换为ABCD矩阵,由此求出介质基片的复介电常数。为得到带状线正确的S参数,需要对测量系统进行校准。本文采用由TRL校准原理衍生而来的校准方法做校准。
关键词
介电常数
损耗角正切
+带状线
trl
校准技术
Keywords
permittivity loss tangent +strip line trl calibration technique
分类号
TM931 [电气工程—电力电子与电力传动]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
微波印刷板电路基片复介电常数测量研究
卜玲慧
向博
窦文斌
《宇航计测技术》
CSCD
2013
2
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