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量子密钥分发系统防死时间攻击方案研究
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作者 唐世彪 李志 +5 位作者 郑伟军 张万生 高松 李亚麟 程节 蒋连军 《量子电子学报》 CAS CSCD 北大核心 2023年第1期95-103,共9页
为进一步提升量子密钥分发(QKD)技术的实用性和安全性,挖掘QKD系统中可能存在的安全漏洞并研究相应的防御策略是该领域的一个重要研究方向。死时间攻击是一种针对具有多通道探测器的QKD系统的攻击方式,攻击者利用单光子雪崩光电二极管... 为进一步提升量子密钥分发(QKD)技术的实用性和安全性,挖掘QKD系统中可能存在的安全漏洞并研究相应的防御策略是该领域的一个重要研究方向。死时间攻击是一种针对具有多通道探测器的QKD系统的攻击方式,攻击者利用单光子雪崩光电二极管的死时间效应实现对指定通道的致盲以破坏QKD系统生成密钥的安全性。针对该类型攻击,提出了一种能够有效防范攻击的基于时间测量的动态死时间设置方案,该方案通过使用TDC时间测量技术确保多通道探测器能够同步进入与退出死时间状态从而实现防御目标。经试验平台验证,该方案具备可行性。 展开更多
关键词 量子通信 量子密钥分发 雪崩光电二极管 死时间攻击 时间数字转换器 现场可编程门阵列
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数字水印在车牌照检测中的应用 被引量:2
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作者 施化吉 唐慧 +1 位作者 李星毅 赵明 《微计算机信息》 北大核心 2008年第18期42-44,共3页
机动车已成为市民出行的主要交通工具之一,假牌套牌运算为机动车的有效管理保驾护航。然而交通运算中假牌套牌运算数据量大,即使仅考虑一个城市的次干道级别的所有道路1.5小内的车辆套牌假牌运算都会因数据量过大难以满足工程需要,假牌... 机动车已成为市民出行的主要交通工具之一,假牌套牌运算为机动车的有效管理保驾护航。然而交通运算中假牌套牌运算数据量大,即使仅考虑一个城市的次干道级别的所有道路1.5小内的车辆套牌假牌运算都会因数据量过大难以满足工程需要,假牌套牌处于无管制状态。笔者提出用图像水印实现交通运算中套牌假牌的运算,这将大大提高交通运算的效率。利用图像经打印照相后其能量分布不会改变的特性,在DCT域嵌入水印信息,实现实物车牌的版权保护。给出了具体实现步骤,通过仿真实验证明该方法的可行性。 展开更多
关键词 套牌运算 假牌运算 图像水印 扫描攻击 照相攻击 喷漆攻击
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一种基于LBP和GLCM的单帧人脸近红外图活体检测方法 被引量:3
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作者 张自友 《乐山师范学院学报》 2018年第12期5-12,73,共9页
文章提出了一种简单、快速、有效的人脸活体检测方法:通过对人脸近红外(NIR)图计算局部二值模式(LBP)图以增强光照鲁棒性,然后计算灰度共生矩阵(GLCM)及特征值实现数据降维;通过支持向量机(SVM)对降维后正负样本部分数据训练后得到分类... 文章提出了一种简单、快速、有效的人脸活体检测方法:通过对人脸近红外(NIR)图计算局部二值模式(LBP)图以增强光照鲁棒性,然后计算灰度共生矩阵(GLCM)及特征值实现数据降维;通过支持向量机(SVM)对降维后正负样本部分数据训练后得到分类模型,从而成功实现了基于单帧人脸近红外图的活体检测。文章的算法有效抑制了环境光照、图像明暗、人脸姿态变化等的影响,在开放数据集CASIA NIR Database以及自行采集的数据集上进行的实验取得了很好的效果。 展开更多
关键词 人脸活体检测 照片攻击 近红外图像 DLIB LBP GLCM SVM
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基于双目摄像机的人脸活体检测的研究 被引量:1
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作者 邱晨鹏 《现代计算机(中旬刊)》 2018年第12期41-44,66,共5页
人脸识别技术是个人身份认证的重要工具。现今,人脸识别技术快速发展,人脸识别技术拥有直接、成本低、用户友好的优点,因而被广泛的应用。针对人脸识别系统无法判断人脸图像是否为活体,提出基于近红外与可将光双目相机人脸活体检测的方... 人脸识别技术是个人身份认证的重要工具。现今,人脸识别技术快速发展,人脸识别技术拥有直接、成本低、用户友好的优点,因而被广泛的应用。针对人脸识别系统无法判断人脸图像是否为活体,提出基于近红外与可将光双目相机人脸活体检测的方法,采用可见光人脸图像与红外人脸图像相结合的方式防伪;利用近红外相机成像特性可以防止视频人脸攻击;利用可见光相机下灰度人脸照片的色彩信息单一防止灰度人脸照片与素描攻击;依据双目视觉原理,对双目设备采集的人脸图像的人脸尺寸大小进行计算,抵御来自不同于人脸大小的攻击。实验结果验证提出的方法表现优异,鲁棒性较好。 展开更多
关键词 人脸识别 近红外图像 活体检测 照片攻击 视频攻击
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Al-Cu互连导线侧壁孔洞形成机理及改进方法
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作者 施海铭 汪辉 +1 位作者 李化阳 林俊毅 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第6期569-572,共4页
侧壁孔洞缺陷是当前Al-Cu金属互连导线工艺中的主要缺陷之一。此种缺陷会导致电迁移,从而降低器件的可靠性。缺陷的产生是由于在干法等离子光刻胶去除工艺过程中,θ相Al2Cu在Al晶界聚集成大颗粒,并且在随后的有机溶液湿法清洗过程中原... 侧壁孔洞缺陷是当前Al-Cu金属互连导线工艺中的主要缺陷之一。此种缺陷会导致电迁移,从而降低器件的可靠性。缺陷的产生是由于在干法等离子光刻胶去除工艺过程中,θ相Al2Cu在Al晶界聚集成大颗粒,并且在随后的有机溶液湿法清洗过程中原电池反应导致Al被腐蚀而在互连导线侧壁生成孔洞。通过对光刻胶去除工艺温度以及湿法清洗工艺中有机溶液的水含量控制可以抑制这种缺陷产生,从而减少电迁移,并且提高芯片的可靠性。 展开更多
关键词 Al-Cu互连 侧壁孔洞缺陷 θ相Al2Cu光刻胶清洗
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