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MAXIMUM ENTROPY DECONVOLUTION OF XPS PEAK
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作者 王典芬 汪海 《Journal of Wuhan University of Technology(Materials Science)》 SCIE EI CAS 1994年第4期19-25,共7页
Necessity of XPS spectrum deconvolution, disadvantages of the traditional Fast Fourier Transform decon-volution method (FFT) , principle, method and advantages of Maximum Entropy Deconvolution Method (MEM) are de-scri... Necessity of XPS spectrum deconvolution, disadvantages of the traditional Fast Fourier Transform decon-volution method (FFT) , principle, method and advantages of Maximum Entropy Deconvolution Method (MEM) are de-scribed. Criteria for determing the number of data points sam-pled in MEM are the main point disccussed in the paper,some XPS deconvolution applications of our MEM software show that the MEM makes XPS deconvolution much easier than the traditional FFT method. 展开更多
关键词 X-ray photoelectron spectrum (XPS) peak maximum entropy decovolution method (MEM) software
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X光电子能谱分析中光电子峰和俄歇峰的干扰及消除 被引量:3
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作者 吴正龙 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2005年第3期45-47,共3页
X光电子能谱(XPS)在分析多元素材料时,光电子峰可能受到其它元素俄歇谱的干扰。在AlKα激发CrZnSi合金样品时,光电子峰Cr2p和俄歇峰ZnLMM相互干扰,而换用双阳极中的MgKα源激发,虽可消除此相互干扰,但样品表面的C1s和N1s又会受到ZnLMM... X光电子能谱(XPS)在分析多元素材料时,光电子峰可能受到其它元素俄歇谱的干扰。在AlKα激发CrZnSi合金样品时,光电子峰Cr2p和俄歇峰ZnLMM相互干扰,而换用双阳极中的MgKα源激发,虽可消除此相互干扰,但样品表面的C1s和N1s又会受到ZnLMM干扰。类似地,AlKα激发的GaN样品中N1s受俄歇峰GaLMM的严重干扰,而换用MgKα源激发时,C1s峰又受到的GaLMM的干扰。交替使用Mg/Al双阳极激发源,可改变XPS分析中的俄歇谱及其背景对光电子峰的干扰位置,并用未受干扰的峰互相校正2组谱图能量位置,以对样品谱峰作出正确的分析。 展开更多
关键词 XPS 光电子峰 俄歇电子峰 CrZnSi合金 GAN 双阳极X射线源
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X射线光电子能谱对褐煤中碳氧形态的研究 被引量:5
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作者 贺琼琼 苗真勇 +1 位作者 万克记 黄少萌 《煤炭技术》 CAS 北大核心 2016年第1期298-300,共3页
采用X射线光电子能谱(XPS)对中国和澳洲褐煤进行分析,XPS全图分析表明,胜利褐煤成分较为混杂,检测到C、O、Si、Al和Na元素;Loy Yang褐煤只检测到C和O元素,样品相对纯净。2种褐煤碳元素形态较为接近,不同形式碳元素含量由高到低依次为C-C... 采用X射线光电子能谱(XPS)对中国和澳洲褐煤进行分析,XPS全图分析表明,胜利褐煤成分较为混杂,检测到C、O、Si、Al和Na元素;Loy Yang褐煤只检测到C和O元素,样品相对纯净。2种褐煤碳元素形态较为接近,不同形式碳元素含量由高到低依次为C-C、C-O、C=O和O=C-O。氧元素分布差别较大,胜利褐煤中C-O占绝大多数,C=O和O=C-O含量都很低;而Loy Yang褐煤中,O=C-O和C-O含量较为接近。 展开更多
关键词 X射线光电子能谱 褐煤 分峰
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用变角XPS技术定量计算超薄SiO_2层厚度
4
作者 严少平 汪贵华 +1 位作者 李锋 顾广颐 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 2003年第3期452-455,共4页
采用变角XPS技术分析单晶Si和非晶Si衬底上覆盖SiO2薄层的样品,比较变角XPS定量计算超薄SiO2层厚度的几种方法及特点,从而获得一种比较可靠稳定的分析计算方法。实际应用证明,变角XPS技术可用于MOS集成器件的超薄栅氧化层厚度常规分析... 采用变角XPS技术分析单晶Si和非晶Si衬底上覆盖SiO2薄层的样品,比较变角XPS定量计算超薄SiO2层厚度的几种方法及特点,从而获得一种比较可靠稳定的分析计算方法。实际应用证明,变角XPS技术可用于MOS集成器件的超薄栅氧化层厚度常规分析和测试。 展开更多
关键词 变角XPS技术 定量计算 超薄SiO2层 超薄栅氧化层 厚度测量 薄膜 MOS集成器件 金属-氧化物-半导体器件
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β-Ga_2O_3体单晶X射线光电子能谱分析
5
作者 程红娟 张胜男 +2 位作者 练小正 金雷 徐永宽 《人工晶体学报》 EI CAS 北大核心 2019年第1期8-12,共5页
通过对导模法制备的非故意掺杂、Si掺杂β-Ga_2O_3晶体和Si掺杂后退火处理的β-Ga_2O_3晶体进行了X射线光电子能谱分析(XPS),对比分析不同样品的Ga3d、Ga2p、O1s特征峰位和峰强度变化,并结合文献报道中β-Ga_2O_3薄膜及单晶材料的报道结... 通过对导模法制备的非故意掺杂、Si掺杂β-Ga_2O_3晶体和Si掺杂后退火处理的β-Ga_2O_3晶体进行了X射线光电子能谱分析(XPS),对比分析不同样品的Ga3d、Ga2p、O1s特征峰位和峰强度变化,并结合文献报道中β-Ga_2O_3薄膜及单晶材料的报道结果,进一步确认β-Ga_2O_3体单晶特征峰峰值。同时,通过对各峰强度的变化进行对比分析,对次峰产生的原因进行推测,获得Si掺杂及退火对晶体表面及晶体内部个特征峰的变化规律。 展开更多
关键词 β-Ga2O3晶体 导模法 X射线光电子能谱分析 特征峰
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基于SEM与XPS对焦炉上升管内壁结焦炭层织构的研究 被引量:1
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作者 王浩 金保昇 +3 位作者 王晓佳 余波 曹俊 吕冬强 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2019年第11期3333-3339,共7页
以焦炉上升管内壁结焦炭层为研究对象,采用扫描电子显微镜(SEM)和X射线光电子能谱仪(XPS)研究各结焦炭层的微观形貌、元素组成及键合状态,分析结焦炭层织构形成及演化规律。SEM研究表明,焦炉上升管内壁各结焦炭层形貌呈现较大的差异性,1... 以焦炉上升管内壁结焦炭层为研究对象,采用扫描电子显微镜(SEM)和X射线光电子能谱仪(XPS)研究各结焦炭层的微观形貌、元素组成及键合状态,分析结焦炭层织构形成及演化规律。SEM研究表明,焦炉上升管内壁各结焦炭层形貌呈现较大的差异性,1#结焦炭层呈现0.1~1.0μm颗粒化炭颗粒松散堆叠的多孔结构,2#和3#结焦炭层呈现粒径为1.0~3.0μm的炭颗粒堆积形貌且致密性有所提高,4#结焦炭层呈现大量花纹状致密结构。以上现象可说明结焦炭层的形成过程为:首先由荒煤气中多环芳烃形成0.1~1.0μm的颗粒状初级炭层,颗粒状初级炭层在荒煤气粉尘中金属元素(如Fe)的催化作用下相互反应,形成更为致密的1.0~3.0μm的中级炭层结构,中级炭层在高温条件下进一步形成致密的终级炭层结构。XPS分析表明,1#—4#结焦炭层含C量分别为91.78%,91.95%,92.74%和94.01%,含O量分别为5.58%,5.42%,4.39%和2.86%,C/O比分别为16.45,16.96,21.12和32.87,说明在炭层结构变化的同时,炭层中含氧基团在高温及粉尘中金属元素(如Fe)作用下发生脱除反应,使得炭层中宏观C/O比逐渐升高。在此基础上,通过对C元素键合状态分峰发现,1^#—4^#结焦炭层中C—C/C—H结构含量分别为80.42%,78.00%,75.50%和81.29%,C—O/C—N结构含量分别为10.22%,11.93%,13.54%和9.35%,C=O/C=N结构含量分别为9.36%,10.07%,10.96%和9.36%。O元素键合状态分峰发现,1^#—4^#结焦炭层中=O结构含量分别为20.40%,22.21%,19.93%,18.36%,—O—结构含量分别为24.60%,27.80%,31.35%,37.82%,O2/H2O结构含量分别为55.00%,49.99%,48.72%和43.82%。以上现象说明结焦炭层上发生如下化学变化:初级炭层中多孔结构会吸附荒煤气中的氧气(O2)和水分子(H2O)在高温条件下对炭层进行氧化。脱除反应和氧化反应使得炭层中O元素在微观键合状态发生明显改变,最终使得炭层中O2/H2O和=O结构含量降低,—O—结构含量升高。以上研究揭示了荒煤气上升管结焦炭层织构形成及演化机制,为解决焦炉荒煤气上升管内壁结焦问题,提高换热器效能,降低焦化企业能耗提供了实验基础和理论依据。 展开更多
关键词 光谱学分析 结焦机理 织构 扫描电子显微镜 X射线光电子能谱 分峰拟合
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X射线光电子能谱复杂谱图的非线性最小二乘法分析案例 被引量:4
7
作者 范燕 徐昕荣 +3 位作者 石志峰 刘佳 李冰 肖娟 《分析科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2021年第3期373-378,共6页
X射线光电子能谱(XPS)是材料表面分析表征最常用的测试手段之一,然而由于XPS数据处理过程中往往会带入主观因素,其数据分析往往是一个难题。本文重点报道了XPS复杂数据分析的处理方法和案例,首先总结了非线性最小二乘法(NLLSF)分析XPS... X射线光电子能谱(XPS)是材料表面分析表征最常用的测试手段之一,然而由于XPS数据处理过程中往往会带入主观因素,其数据分析往往是一个难题。本文重点报道了XPS复杂数据分析的处理方法和案例,首先总结了非线性最小二乘法(NLLSF)分析XPS复杂谱图的适用范围;随后根据谱峰重叠的类型对实际测试分析过程中遇到的复杂数据进行了汇总、分析和归类。数据分析结果表明NLLSF方法可轻松快速扣除其他谱峰的干扰,获得了更为可靠的样品表面分析结果。在找到合适参考谱图的前提下,NLLSF方法为XPS复杂数据的准确分析提供了更多可能,在XPS的定性定量分析研究领域具有十分广阔的应用前景。 展开更多
关键词 X射线光电子能谱 非线性最小二乘法 分峰拟合 应用案例
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X射线光电子能谱测定元素化学态的常见问题探讨 被引量:4
8
作者 丁小艳 武晓 +2 位作者 娄金分 曾淦宁 艾宁 《广州化工》 CAS 2020年第16期85-87,共3页
X射线光电子能谱(XPS)是一种表面灵敏的定量谱学技术,可以用于分析材料中存在的元素(除氢、氦)构成以及元素的化学态和电子态,是研究原子、分子及固体材料的一种有力工具。XPS在分峰拟合过程中,半峰宽、峰面积、峰间距以及已有的实验结... X射线光电子能谱(XPS)是一种表面灵敏的定量谱学技术,可以用于分析材料中存在的元素(除氢、氦)构成以及元素的化学态和电子态,是研究原子、分子及固体材料的一种有力工具。XPS在分峰拟合过程中,半峰宽、峰面积、峰间距以及已有的实验结果的归纳均会影响分峰结果的准确性。以一种新型复合材料-纳米零价铁活性炭(NZVI/AC)为例,通过XPS分析其去除水中Cr(Ⅵ)过程中材料表面的元素价态变化,探讨分峰过程中常见的错误对实验结果造成的影响。 展开更多
关键词 X射线光电子能谱(XPS) 分峰 化学价态
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XPS数据处理方法技巧 被引量:2
9
作者 尹宗杰 汪霆 邢化朝 《山东化工》 CAS 2017年第12期89-91,93,共4页
X射线光电子能谱仪(XPS)是表面分析中最主要的分析方法,其中XPS数据分析和处理是广大科研工作者的难以攻克的难题。文中以实际数据为例,重点讲述通过XPS专业数据处理软件Avantage进行谱峰识别、元素及化学态谱峰重叠确认的处理方法和技巧。
关键词 X射线光电子能谱仪(XPS) Avantage软件 谱峰识别 分峰拟合
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多光子电离的强场效应(Ⅰ)──强激光诱导自电离
10
作者 冯健 宋同强 肖成章 《聊城大学学报(自然科学版)》 1994年第1期29-34,共6页
综述强激光场诱导自电离研究的主要方面和最新进展,重点分析其光电子谱的独特性质,并展望了强场诱导自电离研究的发展方向.
关键词 强场自电离 光电子谱 峰开关效应
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余吾煤业原煤和构造煤X射线光电子能谱测试
11
作者 王永祥 田畅 +3 位作者 马玉龙 马勤雨 翟雷 王川 《广州化工》 CAS 2022年第16期115-117,共3页
为了分析余吾煤业原煤和构造煤的X射线光电子能谱,对比研究了原煤和构造煤样品表面元素碳、氧、氮元素的结构归属和相对含量,获得了样品的结构特征差异。碳结构主要以C-H和C-C形式存在,氧元素以C-O、C=O和COO-形式存在,N-5和N-6是主要... 为了分析余吾煤业原煤和构造煤的X射线光电子能谱,对比研究了原煤和构造煤样品表面元素碳、氧、氮元素的结构归属和相对含量,获得了样品的结构特征差异。碳结构主要以C-H和C-C形式存在,氧元素以C-O、C=O和COO-形式存在,N-5和N-6是主要的氮结构表现形式。与原煤相比,构造煤的表面元素表现为碳元素含量增加、氧元素含量减少及氮元素含量不变,体现了应力作用下煤体含氧官能团含量减少、煤化程度升高以及对氮元素含量影响较小的特征。 展开更多
关键词 分子结构 X射线光电子能谱 原煤 构造煤 分峰拟合
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小单元漂移室用放射源模拟老化的实验研究 被引量:2
12
作者 陈昌 马媛媛 +12 位作者 刘建北 陈元柏 金艳 刘荣光 马骁妍 秦中华 唐晓 王岚 伍灵慧 徐美杭 朱启明 朱萱 张桂芳 《高能物理与核物理》 EI CSCD 北大核心 2005年第3期282-287,共6页
BESⅢ漂移室 (DC)模型用 1.85× 10 9Bq55Fe5 .9keVX射线放射源作加速老化实验研究 .测量了阳极丝电流I和55Fe 5 .9keVX射线全能光电峰位随累积电荷量Q的变化 ,由此得到累积相当BESⅢDC 5年全天候运行的电荷量 (0 .0 7C/cm)后 ,漂... BESⅢ漂移室 (DC)模型用 1.85× 10 9Bq55Fe5 .9keVX射线放射源作加速老化实验研究 .测量了阳极丝电流I和55Fe 5 .9keVX射线全能光电峰位随累积电荷量Q的变化 ,由此得到累积相当BESⅢDC 5年全天候运行的电荷量 (0 .0 7C/cm)后 ,漂移室小单元的阳极电流降为初始值的 87% ;老化率为R =- 0 .19% (mC/cm) . 展开更多
关键词 老化效应 参数表示 全能光电峰位 阳极丝电流 BESⅢ漂移室 气体探测器
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新型碳材料表面元素及化学态高分辨XPS定量研究 被引量:1
13
作者 范燕 王晓阳 +1 位作者 李林清 谭军 《化学通报》 CAS CSCD 北大核心 2023年第8期1018-1023,共6页
X射线光电子能谱(XPS)在科学研究中被广泛应用于碳材料表面官能团识别和结构缺陷判定,对表面组成结构识别和性能调控具有重要指导意义。XPS数据分析主观性强、sp^(2)杂化态对应C1s谱峰峰形不对称以及各化学态对应峰位差异相对较小等因... X射线光电子能谱(XPS)在科学研究中被广泛应用于碳材料表面官能团识别和结构缺陷判定,对表面组成结构识别和性能调控具有重要指导意义。XPS数据分析主观性强、sp^(2)杂化态对应C1s谱峰峰形不对称以及各化学态对应峰位差异相对较小等因素是导致碳材料XPS数据分析难度高的主要原因。本文通过对XPS分析碳材料现状总结了当前新型碳材料XPS数据分析方法的不足(主要包括C=C化学态对应C1s谱峰峰形不对称峰形、各化学态半峰宽拟合的随意化以及数据的主观化);并结合实际材料通过C=C化学态谱峰峰形参考化、半峰宽相对限定化以及多数据分析客观化对新型碳材料XPS数据方法进行进一步规范,为XPS应用于新型碳材料表面元素及化学态定量高分辨研究提供理论依据和技术保障。 展开更多
关键词 碳材料 参考谱峰 分峰拟合 规范 XPS
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