侧链型丙烯酸酯共聚物相变的正电子湮没谱研究

利用正电子湮没技术对侧链型热致高分子液晶丙烯酸酯共聚物进行了变温相变研究．除实验标识出样品的相变温度点外，根据试样中自由体积随温度的变化关系，对高分子液晶材料内部立链、侧链以及介晶基元的相变行为特点进行了探讨，并就与小分子液晶变化特点的一些不同做了解释．

液晶中正电子湮没的研究

在加热和冷却过程中,分别测量了EBBA样品的正电子湮没寿命和差示扫描量热(DSC)曲线。结果表明短寿命(τ_S)基本不变,而长寿命(τ_L)和强度(I_L)明显地变化;在加热和冷却过程中向列相——晶体转变温度Tc(K)不同。这一现象可以用ORE模型和液晶在相变过程的微观结构变化来解释。