粉末压片——波长色散X射线荧光光谱法在钼矿石测定中的应用

试样用高密度聚乙烯干粉镶边衬底压片,波长色散X射线荧光光谱法测定钼矿石中Mo及其伴生元素W、Sn、Cu、Pb、Zn、Bi的含量。根据我国钼矿品位的特点,选择国家标样与某一大型钼矿样品相结合的办法建立校准曲线,钼测量范围为0.03%～1.51%,采取经验系数法对基体效应进行校正。选一试样11次压片测定,各成分结果的相对标准偏差<1%,用该方法测定某一大型钼矿样品,其结果与其他单位湿法结果对比,具有良好的一致性,主量及伴生元素结果与标样认定值比对结果理想。

粉末压片-X-射线荧光光谱法测定五氧化二钒中主次成分

介绍了粉末压片-X-射线荧光光谱法测定五氧化二钒中V2O5，Si，P，Fe，K2O，Na2O，S含量的分析方法。根据五氧化二钒样品中主次成分含量范围，用高纯试剂配制出具有成分含量梯度的并经其他方法定值的校准样品绘制校准曲线；以仪器提供的基体校正方法消除吸收与增强效应影响，用本文提出的“干扰增量法”测量与计算出重叠校正系数K，输入仪器自动校正，同时评估出干扰元素一定含量影响分析元素的净增含量。该方法与其他方法测定样品结果之间具有良好的一致性，同一试样的11次制片测定，各成分结果的相对标准偏差在0．073％-7．35％范围内。

粉末压片-X射线荧光光谱法测定钒渣中的化学成分

采用试样粉末直接压片,基体效应用仪器软件方法校正,谱线重叠干扰以本文提出的"干扰增量法"测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正。用X射线荧光光谱法测定了钒渣中V2O5,SiO2,A l2O3,CaO,MgO,MnO,TiO2,Cr2O3,S,P含量。该方法测定钒渣标样的结果与认可值符合良好,试样9次压片测定各成分的相对标准偏差在0.09%—0.64%范围内。

粉末压片-X射线荧光分析钽钛钨铁合金中钽钛钨铁

介绍了粉末压片—X射线荧光光谱法测定CK料中钽钛钨铁含量的分析方法。根据钽钛钨铁样品中主次成分含量范围,用高纯试剂配制出具有成分含量梯度的校准样品;以标样中Ta、Ti、W、Fe元素的荧光强度和含量所具有的对应关系,并考虑到各元素之间的吸收与激发效应,经过校正拟合出Ta、Ti、W、Fe元素的实际工作曲线。该方法与对照样品各元素值符合较好,与其他方法测定结果有良好的一致性。方法的精密度RSD(n=10)在0.04%～0.90%范围内。

X射线荧光光谱压片法测定白刚玉中微量元素含量

分析粉末压片法X射线荧光光谱法测定白刚玉中微量元素含量的分析方法,研究在压片过程中分散剂三乙醇胺的用量,颗粒效应等对测量的影响。用系列定值的氧化铝校准样品绘制工作曲线,以仪器自带的基体校正方法消除吸收与散射效应,对白刚玉样品中SiO_2、Fe_2O_3、CaO、K_2O、Na_2O、ZnO 6个元素进行测量,同一试样的11次压片测量,各成分结果的相对标准偏差在0.85%~5%范围之间。用氧化铝标准样品和白刚玉样品验证,该方法与化学法测定样品结果之间一致性良好。

粉末压片-X射线荧光光谱仪分析铝钒中的铝钒

介绍了粉末压片-X射线荧光光谱法测定铝钒中铝钒含量的分析方法。根据铝钒样品中主次成分含量范围,用高纯试剂配制出具有成分含量梯度的校准样品,以标样中铝钒元素的荧光强度和含量所具有的对应关系,并考虑到各元素之间的吸收与激发效应,经过校正拟合出铝钒元素的实际工作曲线。该方法与对照样品各元素值符合较好,与其他方法测定结果有良好的一致性。方法的精密度RSD(n=10)在0.037%～0.319%范围内。

粉末压片X-射线荧光光谱法测定外购生铁多元素含量

讨论了应用粉末压片X-射线荧光光谱法测定炼钢用外购生铁中Si、Mn、P、S、As元素含量的方法。样品经钻床钻取为碎屑状，用粉碎机研磨为粉末，以硼酸作衬底，将粉末试样制成圆片状，用X-射线荧光光谱仪测定试样中多元素含量。试验证明，方法分析周期短，数据准确可靠，能提高外购生铁检验效率，同时降低采用化学法而引起的酸烟和废液对环境的污染。

X射线荧光光谱法测定地震地球化学样品中的主微量元素

地震地球化学样品中的主微量元素蕴含着丰富的地震信息,因此如何准确、经济、快捷地测定样品中主微量元素是目前很多学者关注的焦点。本文利用X射线荧光光谱仪,采用熔融法和粉末压片法测定地震地球化学样品中的主微量元素,方法的准确度用GBW 07110和GSS-1标准样品验证,结果均在标准范围内;方法的精密度用GSS-1标准样品检验,除Cr、Sm、Th、U 4种元素的相对标准偏差(RSD)大于10%外,其余被测元素的RSD均不大于7.78%。实验表明采用熔融法制样,使样品成为非晶态共熔体,从而消除了样品的矿物效应和粒度效应,适宜测量地震地球化学样品中的主量元素,准确度高;粉末压片法能显著地提高峰背比值,降低元素检出限,具有方法简便、灵敏、准确等优点,能很好的测量地球化学样品中的微量元素。同时,X射线荧光光谱法多元素分析、非破坏性测定和成本低等优点备受学者青睐。

WD-XRF在新疆某地区化探样品上的应用

讨论了波长色散X射线荧光光谱法(W D-XRF)在地质样品分析中的测量条件、适用范围、分析方法的精密度和准确性。本法用经验系数法和散射线内标法校正基体效应,采用粉末压片法制取试样,对新疆某地区化探样品50种元素进行分析,提高了分析精度。重点研究Pb、Zn、Cu、F e 4种成分。