CMOS集成电路中Glitch Power的分析方法研究

在集成电路中器件延迟数学模型的基础上,介绍了如何利用定时布尔函数和定时有序二值决策图对集成电路GlitchPower进行分析;借助CUDD软件包,构建了电路的Timed-OBDD表达形式,对一些典型的BenchMark进行了仿真。

光电产品的新型寿命预测模型及其应用

大多数现有的寿命预测模型在处理光电产品实验数据时存在耗时长、精度低等问题。为了短时间内准确地预测光电产品的寿命,利用两参数威布尔函数拟合多组应力下的亮度衰减数据获得加速寿命,通过拟合优度检验参数确定Power函数来外推常规寿命,从而构建了一种新型的光电产品寿命预测模型:加速寿命外推模型(ALEM)。将该模型应用于真空荧光显示屏(VFD)寿命的快速预测,开展了4组恒定应力加速退化实验,实现了模型精度的评价。结果表明,设计的VFD加速退化实验方案正确可行,采集的实验数据客观地反映了VFD亮度衰减特性;ALEM准确地描述了加速应力下亮度的变化轨迹,很好地揭示了应力随寿命变化的规律,无需开展常规寿命实验便可精确地外推出产品的寿命,为现代光电产品的寿命评估开辟了一种新的方法和途径。

粒度对煤孔隙特征影响的压汞实验研究

为了分析研究粒度对煤孔隙特征的影响,采用收集某矿煤样分别破碎筛分出3个不同粒径煤粒进行压汞实验。结果表明:阶段孔体积的分布曲线符合高斯函数,阶段比表面积的分布曲线符合Power函数;孔体积与比表面积具有相关性,其相关性随着孔径的增加而不断减小,进而分析了造成该现象的原因是由于煤样中存在微裂隙的影响;粒度影响煤粒孔体积的本质原因是煤样粒度改变了粒间孔体积大小,而粒内孔体积几乎不随粒度的改变而改变;孔直径小于1 000 nm的煤体孔隙孔体积和孔比表面积均具有明显的分形特征。