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掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构
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作者 谢治 谢亚宁 +3 位作者 刘涛 胡天斗 闫文盛 韦世强 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第2期87-90,共4页
利用荧光 X 射线吸收精细结构(XAFS)技术研究了厚度为 3—105 nm 范围的分子束外延生长的 Pt 金属薄膜的局域结构。结果表明,30 nm 和 105 nm Pt 薄膜的 XAFS 结果与多晶 Pt 箔的相似,在径向结构函数图中的 2.61、3.80、4.63、5.43... 利用荧光 X 射线吸收精细结构(XAFS)技术研究了厚度为 3—105 nm 范围的分子束外延生长的 Pt 金属薄膜的局域结构。结果表明,30 nm 和 105 nm Pt 薄膜的 XAFS 结果与多晶 Pt 箔的相似,在径向结构函数图中的 2.61、3.80、4.63、5.43 ? 处出现第一、二、三和四配位壳层的配位峰,保持着 Pt 金属的面心立方结构特征。30 nm Pt 薄膜样品的结构参数:配位数 N=11.9,键长 R=2.77 ?,无序度σ2=0.0055 ?2。3 nm 和 10 nmPt 超薄膜的径向结构函数曲线中的第一配位峰形状与 105 nm Pt 厚膜的相似,但强度明显降低,其结构参数分别为: N=10.1, R= 2.78 ?, σ2=0.0077 ?2;N=11.3, R= 2.77 ?, σ2=0.0061 ?2;同时其高壳层的配位峰近于消失,说明 3 nm 和 10 nm Pt 超薄膜的中程有序结构遭到较大影响,无序度明显增加。在 350—800oC 温度范围内生长的 105 nm Pt 薄膜,其局域结构近似于 Pt 金属晶体。 展开更多
关键词 荧光X射线吸收精细结构 pt超薄膜 掠入射
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