期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
UC3525用于光电测量系统的反馈控制 被引量:1
1
作者 乐开端 王创社 +1 位作者 赵宏 谭玉山 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1998年第6期383-385,共3页
首次将脉宽调制控制芯片(UC3525)用于激光扫描测量系统,解决了激光扫描测量中因不同材料对激光的散射光强不同、不同曲面对激光光强反射各异以及物体表面镜面反射等问题给测量精度带来的严重影响[1],利用激光扫描系统中的... 首次将脉宽调制控制芯片(UC3525)用于激光扫描测量系统,解决了激光扫描测量中因不同材料对激光的散射光强不同、不同曲面对激光光强反射各异以及物体表面镜面反射等问题给测量精度带来的严重影响[1],利用激光扫描系统中的摄像机直接作为光强反馈系统,实现了测量过程中的光强自动控制,有效地降低了光强饱和等问题给测量带来的误差。 展开更多
关键词 脉宽调制器 激光线扫描测量 三角法
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部