Simultaneous Determination of Trace Rare Earth Elements and Other Elements in High Purity Terbium Oxide (Tb_4O_7) by ICP-AES After HPLC Separation Using P507 Resin

This article describes a new method for the simultaneous determination of trace rare earth elements (REEs) and non rare earth elements (NREEs) in high purity terbium oxide by ICP-AES after HPLC separation using P507 resin. The chromatographic separation of the analytes from the matrix using dilute nitric acid as mobile phase was studied. The experimental results showed that a favorable separation of trace metals (Cu and Gd) from the matrix (Tb) can easily be achieved by elution with dilute nitric acid within 25 min. The proposed method was applied to the determination of trace metals (Ca, Cu, Mg, Mn, Ni, Si, La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu and Gd) in high purity terbium oxide. The detection limits (DLs) for the analytes ranged from 0.4-4.0 μg\5g -1, and the recoveries are from 78%-105%.

纯硒中杂质元素的ICP-AES测定

电感耦合等离子体-原子发射光谱同时测定纯硒中的碲、铅、铋、锑、铜、铁、镍、镁、铝、锡、砷和硼12种元素的含量,优化出各元素的分析波长和分析条件;用基体匹配补偿基体效应,方法简单,快速可靠,样品回收率为94%—107%。

ICP-AES法测定硒中的15个杂质元素

以电感耦合等离子体光谱法(ICP-AES)直接同时进行硒里面硒行业标准要求的15个杂质元素Al、As、B、Bi、Cu、Fe、Mg、Ni、Pb、Sb、Sn、Si、S、Hg、Te的测定,提出了:试样溶解的方法、元素的干扰情况、基体匹配补偿基体效应、元素分析谱线的最佳选择和背景校正的最佳方法。优化仪器工作条件,综合确定了最佳试验条件,结果表明,该法准确、快速、简便,精密度、回收率、标准样品分析对照均取得了满意的效果。

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯硒中18种杂质元素

高纯硒采用硝酸溶解并蒸干后于320℃的挥发炉中,挥发40 min,用盐酸溶解残渣后,采用电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-AES）法测定Al、As、Bi、Cd、Co、Cr等18种共存杂质元素的含量。考察了溶解酸的种类、主体硒的挥发条件、硒的残存量及干扰情况、分析谱线的选择等。方法检出限小于30 ng/g,用于测定高纯硒中各杂质元素平均回收率在90%~109%之间,相对标准偏差小于10%,与其他分析方法相对照,测定结果较为吻合。

基体分离-电感耦合等离子体质谱法测定高纯硒中13种杂质元素

采用基体分离-电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯硒中13种痕量杂质元素含量,优化了试验条件.利用二氧化硒在真空条件下升华温度低的特点挥发基体硒,选择合适的内标元素,考察基体效应的影响.结果表明,选择Cs作为待测元素的内标更合适.测定硒残留量小于100μg/mL的样品,不影响各待测元素.方法检出限为0.007~0.033μg/g,RSD为5.7%~19%,加标回收率在90.2%~115%之间,可以满足高纯硒中痕量杂质元素含量的测定.

硒原料中影响光敏性能的痕量杂质元素研究

采用电感耦合等离子质谱、等离子发射光谱及电子显微分析技术相结合的方法，对影响硒碲复印感光鼓先电性能的国产高纯硒原料中有害杂质成分进行了深入研究。结果表明硫、氧、铁等杂质元素是影响其先敏性能的主要有害元素。在电子显微分析的基础上，有针对性的ICP宏观定量分析结果的异常波动性进一步反映了以硫为主的杂质元素在原料中存在极不均匀的聚集分布，讨论了检测杂质元素硫的化学分析方法及其控制范围。