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题名湿法化学清洗设备的防护措施
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作者
苗岱
杨静
王大伟
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机构
中国电子科技集团公司第二研究所
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出处
《科技资讯》
2009年第31期43-44,共2页
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文摘
主要介绍了半导体晶圆RCA清洗工艺及化学湿法清洗设备在使用时安全隐患和防腐保护措施的应用。在设备的主体、电气控制系统、加热系统、排放系统等部分的设计的独创性和实用性得到广泛的应用。一定程度上解决了该设备在应用中的安全隐患,具有重要的意义。
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关键词
湿法化学
RCA清洗
qdr
防护措施
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Keywords
wet bench
RCA clean recipe
qdr(quick dump rinse)
safety measures
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分类号
TQ
[化学工程]
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题名半导体晶圆自动清洗设备
被引量:8
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作者
王锐延
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机构
北京七星华创电子股份有限公司
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出处
《电子工业专用设备》
2004年第9期8-12,共5页
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文摘
主要介绍了半导体晶圆RCA清洗工艺以及半导体晶圆自动清洗设备在生产中的结构设计和应用情况。在工艺模块和伺服机械传送方面体现了湿法化学的独创性和实用性。解决了晶圆清洗技术中晶圆清洗效果的一致性,在半导体IC、材料、器件领域的清洗工艺中得到广泛使用,具有极大的社会经济效益。
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关键词
湿法化学
工艺模块
qdr
RCA清洗
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Keywords
Wet bench
Process module
qdr(quick dump rinse)
RCA clean recipe
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分类号
TN305.97
[电子电信—物理电子学]
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题名基于湿法清洗中快排槽节水性能的优化研究
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作者
赵宏亮
高津平
刘建民
边晓东
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机构
中国电子科技集团公司第四十五研究所
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出处
《电子工业专用设备》
2020年第2期53-56,共4页
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文摘
现有的清洗设备中,当完成晶圆的清洗工艺后,再次利用快速排水的工艺方法会消耗大量水资源。针对这一问题,探讨了一种适用于该类工艺流程的节水设计方案。通过改进排放阀的结构,将废水排放与回收功能集成相结合,使得去离子水的利用率得到了提高,不仅节约了成本,并且避免了资源的浪费。
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关键词
晶圆清洗
快排阀
快排槽
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Keywords
Wafer cleaning
quick dump cylinder
quick dump rinse tank
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分类号
TN305
[电子电信—物理电子学]
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