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IGBT RBSOA失效分析及改善方案
1
作者
高东岳
孙军
蔡南雄
《中国集成电路》
2013年第5期77-80,共4页
一种绝缘栅双极晶体管模块在做反向偏置安全工作区测试时,器件在较低的关断电流下就发生了损坏。失效分析显示失效区的位置靠近栅极条区。模拟显示失效区处元胞结构并非对称,而正常元胞结构是对称的,由此造成了该处元胞的闩锁电流密度...
一种绝缘栅双极晶体管模块在做反向偏置安全工作区测试时,器件在较低的关断电流下就发生了损坏。失效分析显示失效区的位置靠近栅极条区。模拟显示失效区处元胞结构并非对称,而正常元胞结构是对称的,由此造成了该处元胞的闩锁电流密度比对称结构元胞的闩锁电流密度低。因此,元胞结构的一致性不好是RBSOA关断电流低的原因。通过修改版图设计,使工作区元胞结构一致。对改版后的芯片封装后进行RBSOA测试,结果显示安全关断电流有明显提高。
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关键词
rbsoa
测试
闩锁电流密度
元胞结构的一致性
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职称材料
题名
IGBT RBSOA失效分析及改善方案
1
作者
高东岳
孙军
蔡南雄
机构
上海北车永电科技有限公司
出处
《中国集成电路》
2013年第5期77-80,共4页
文摘
一种绝缘栅双极晶体管模块在做反向偏置安全工作区测试时,器件在较低的关断电流下就发生了损坏。失效分析显示失效区的位置靠近栅极条区。模拟显示失效区处元胞结构并非对称,而正常元胞结构是对称的,由此造成了该处元胞的闩锁电流密度比对称结构元胞的闩锁电流密度低。因此,元胞结构的一致性不好是RBSOA关断电流低的原因。通过修改版图设计,使工作区元胞结构一致。对改版后的芯片封装后进行RBSOA测试,结果显示安全关断电流有明显提高。
关键词
rbsoa
测试
闩锁电流密度
元胞结构的一致性
Keywords
rbsoa test
Latch-up Current Density
Uniformity of Cell Structures
分类号
TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN322.5 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
IGBT RBSOA失效分析及改善方案
高东岳
孙军
蔡南雄
《中国集成电路》
2013
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