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乐观同步时间分析及运行支撑平台接口性能参数的测试 被引量:1
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作者 严海蓉 张亚崇 +1 位作者 孙国基 钟联炯 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第4期745-749,共5页
剖析了乐观同步算法和高层体系结构(HLA)实现机制,分析了对仿真时间影响的主要因素———运行支撑平台(RTI)接口性能参数,得到了它对总仿真时间的影响效力。在分析的过程中发现了事件处理方式、存储和恢复算法的选择依然是控制仿真时间... 剖析了乐观同步算法和高层体系结构(HLA)实现机制,分析了对仿真时间影响的主要因素———运行支撑平台(RTI)接口性能参数,得到了它对总仿真时间的影响效力。在分析的过程中发现了事件处理方式、存储和恢复算法的选择依然是控制仿真时间长短的关键点。总之,在乐观算法实现时,采用RTI会加长仿真时间,其中接口性能是造成仿真时间增长的主要因素。最后,通过仿真,测出了KD-RTI接口性能参数的统计均值。 展开更多
关键词 计算机应用 高层体系结构(HLA) 分布式仿真 乐观同步 时间管理 rti接口性能
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