基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法(英)

寄存器传输级(RTL)测试产生及时延测试是当今集成电路(IC)测试技术中亟待解决的问题和研究的热点.首先从IC逻辑测试的测试产生和IC时延测试方法这两个方面系统地综述了测试产生和时延测试领域迄今为止的主要研究成果.在RTL行为描述的测试产生方面,提出了新的RTL行为模型的描述方法:行为阶段聚类描述,并提出了基于聚类的测试产生技术.将这些技术集成到RTL级ATPG系统ATCLUB中,在提高测试产生效率及缩短测试长度方面效果显著.在IC时延测试方面,提出了一种新的可变双观测点的时延测试方法。基于该方法提出了新的时延故障诊断方法,实现和完善了可变双观测点的时延测试系统DTwDO.DTwDO提供了从时延测试到故障诊断等一系列测试工具,有效减少了测试通路数,提高了故障覆盖率,并有很高的故障定位成功率.