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工业色谱仪温度测控系统的研究与设计 被引量：3
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作者 李小平 蒋兆远 巴文厂 《兰州交通大学学报》 CAS 2008年第1期110-113,共4页
介绍了一种基于XTR105和RCV420信号变送和转换元件的工业色谱仪温度测控系统的研究与设计方法.控制器选用AVR单片机,测温元件采用Ptl00,采用Intel8254控制AC220V的过零脉冲数量以及可控硅触发控制电路调节系统的加热功率,数字PID控制算... 介绍了一种基于XTR105和RCV420信号变送和转换元件的工业色谱仪温度测控系统的研究与设计方法.控制器选用AVR单片机,测温元件采用Ptl00,采用Intel8254控制AC220V的过零脉冲数量以及可控硅触发控制电路调节系统的加热功率,数字PID控制算法实现精确控温,在0-448℃范围内检测精度为0.1℃.可用于不同范围、不同领域的温度测控系统,现已成功应用于工业色谱仪的温度测控系统,对其他的温控系统设计也有一定的参考作用. 展开更多
关键词 XTR105 rvc420intel8254 工业色谱仪 温度控制 PID算法
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