氡子体α能谱法测量仪器探测效率的测定

在氡子体α能谱法测量中,一个需要考虑的问题是探测器对不同能量的α粒子是否具有相同的探测效率。本文用241Am标准源和加拿大Pylon公司的氡子体标准源对ORTEC八通道α谱仪进行了全谱和高、低能量段探测效率的测定,并对两种测量方法存在的误差进行了分析。测量结果表明,两种方法测得全谱探测效率在误差范围内是一致的;在用氡子体源测量谱仪的探测效率时,α能谱由于滤膜的自吸收而存在着峰重叠现象,经重叠因子修正后,仪器对氡子体较高能量的α粒子(7.69MeV)的探测效率要略大于较低能量的α粒子(6.00MeV),且探测效率的差异随滤膜种类的不同而变化。用氡子体标准源对仪器进行刻度更接近于氡子体测量的实际情况。

测定闪烁室对氡及其子体释放的α粒子探测效率的三段法研究

目的 由闪烁室对氡及其子体衰变释放的α粒子的探测效率,求闪烁室测氢浓度的刻度因子。方法根据氡及其短寿命子体218Po(RaA)和214Po(RaC)之间的关系,建立了一种闪烁室测量氡及其子体释放的α粒子的探测效率的三段法。闪烁室采用真空法瞬时从氡室取样,且氡进入闪烁室前用高效率的玻璃纤维滤膜过滤,三段计数时间分别为采样后5-30min,50～90min,120～180min。结果 一个编号为126#的ST-203型闪烁室对氡及其子体衰变释放的α粒子的探测效率的测量结果分别为εRn=0.779±0.019、εRaA=0.871±0.030、εRaC=0.947±0.011,它们的平均值ε测=0.866与该闪烁室按其测氡刻度因子计算的平均探测效率εXRn=0.875±0.022是一致的。当采样流量为5L·min-1时,126#ST-203型闪烁室测(?)浓度的刻度因子KTh=19.3Bq·m-3·(min-1)-1。结论 为确定闪烁室测(?)浓度刻度因子提供一种较可靠的方法。

高纯锗γ谱仪对自然环境中氡子体的探测效率刻度

使用氡子体标准源对氡子体高纯锗γ能谱测量的探测效率进行了实验测量,并用蒙特进行理论模拟。结果表明,当滤膜放置谱仪表面时,氡子体^(214)Pb 352 keV全能峰探测效率实验值为10.09%,^(214)Bi 609keV的全能峰探测效率实验值为4.22%,可用于氡子体浓度高纯锗γ能谱测量。

MC模拟HPGe探测器测量^(222)Rn子体探测效率

补充了Pylon RN-190氢子体标准源的累积系数,利用该装置制作氡子体γ标准源对HPGe探测器γ探测效率进行刻度,并通过^(137)Cs、^(60)Co点源修正了HPGe探测器的死层厚度及冷指高度,同时用MCNP模拟该谱仪对^(222)Rn子体圆面源的探测效率。模拟与实验结果表明:Pylon氡子体标准源同样适用于HPGe探测器探测效率的刻度;在RaB的特征能量点上,用MCNP模拟取样滤膜上的^(222)Rn子体源的探测效率,与实测值的相对误差可控制在5%以内。