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PI薄膜在炭化和石墨化过程中表面结构的喇曼散射研究 被引量:4
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作者 赵根祥 钱树安 《高分子材料科学与工程》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第1期101-103,共3页
研究了PI(聚酰亚胺)薄膜在不同的炭化和石墨化温度条件下进行热处理所获得的激光喇曼光谱的特征及其结构变化的规律。结果表明,随着热处理温度的升高,试样中归属于A1g和E2g模式的1358cm-1峰和1578cm-1散射... 研究了PI(聚酰亚胺)薄膜在不同的炭化和石墨化温度条件下进行热处理所获得的激光喇曼光谱的特征及其结构变化的规律。结果表明,随着热处理温度的升高,试样中归属于A1g和E2g模式的1358cm-1峰和1578cm-1散射峰的伸缩振动依赖于杂环稠合苯环所构成的分子结构。在2100℃以前,碳体的分子结构发生明显变化,有序性增加,无序区减小。当温度达到2800℃时,该试样便转变为属于D6h空间群的六角平面的层状石墨结构。另外,还估算了试样在1000℃至1700℃温度范围内碳体微晶尺寸(La)的值,发现在此温间La成长较慢。 展开更多
关键词 喇曼散射 表面结构 薄膜 碳化 石墨化 聚酰亚胺
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